(以下参数基于NHB-SNL)

l  针对纳米材料的原位偏压测试系统

—使用偏压芯片（装有4根引线）作为样品的观察装置，具有 AC和DC双模式

—标准控制器可以提供毫安/毫伏测量范围，通过配置不同控制器可以实现皮安/纳安级电流的测量，最大电压40V

l  原位加热可达1100℃

—原位加热芯片实现原位加热测试及相关研究应用。

—加热芯片可以对大样品进行原位加热观察，最大可测样品尺寸 1mm，温度最高可达 1100℃

—加热装置可以持续数小时工作，在1000℃范围内加热/冷却速度只需 1秒

—无须外接水冷系统。

—优秀的密封设计可以使得液体、气体在真空环境下安全、良好地工作。

二、主要功能

l  主要应用

X-RAY、电子显微镜、同步辐射的原位系统

电化学、液体芯片

原位加热（纳米器件的微结构、集成光学器件、半导体、材料等）

三、应用

1. SEM原位加热应用（固体样品、液体样品）

2. TEM原位液体池

3. FIB半导体样品加热

4.原位电化学观测（SEM/TEM/XRAY/XRD）