技术参数
光学平台 | 对称 Czerny-Turner光路, 75 mm 焦距 |
波长范围 | 200 - 1100 nm |
分辨率 | 0.06 - 20 nm, 取决于光谱仪配置 |
杂散光 | 0.04 - 0.1%, 取决于光栅 |
灵敏度 | 470,000 (单位:计数/微瓦每毫秒积分时间) |
探测器 | CCD 线性阵列, 2048 像素 |
CCD制冷温度 | 比环境温度低Max. ΔT = -35°C |
稳定时间 | 4 Minutes |
黑暗基线改善@ΔT=-35°C and it > 5 sec | > Factor 6 |
PRNU改进@ΔT=-35°C and it > 5 sec | >Factor 8 |
3级帕帖尔制冷supply@ΔT=-35° | 5VDC, 3.0A |
信噪比 | 300:1 |
AD转换器 | 16 bit, 2 MHz |
积分时间 | 1.11 ms - 10 minutes |
接口 | USB 2.0 high speed, 480 Mbps RS-232, 115,200 bps |
采样速率(板卡平均) | 1.1 ms/scan |
数据传输速率 | 1.8 ms/scan (USB2) 430 ms/ scan (RS-232) |
数字IO接口 | HD-26连接器,2个模拟输入,2个模拟输出,3个数字输入,12个数字输出,触发,同步 |
电源 | 100 - 240VAC, 50W |
外形尺寸, 重量 | 250 x 179 x 144 mm, 3.6 kg |
光栅选择表
可用范围 | 可用波长范围 | 光谱范围 (nm) | 光栅线对数/mm | 闪耀波长(nm) | 光栅型号 |
UV/VIS/NIR | 200-1100** | 900** | 300 | 300 | UA |
UV/VIS/NIR | 200-1100** | 900** | 300 | 300/1000 | UNA-DB |
UV/VIS | 200-850 | 520 | 600 | 300 | UB |
UV | 200-750 | 250-220* | 1200 | 250 | UC |
UV | 200-650 | 165-145* | 1800 | UV | UD |
UV | 200-580 | 115-70* | 2400 | UV | UE |
UV | 200-400 | 70-45* | 3600 | UV | UF |
UV/VIS | 250-850 | 520 | 600 | 400 | BB |
VIS/NIR | 300-1100** | 800** | 300 | 500 | VA |
VIS | 360-1000 | 500 | 600 | 500 | VB |
VIS | 300-800 | 250-200* | 1200 | 500 | VC |
VIS | 350-750 | 145-90* | 1800 | 500 | VD |
VIS | 350-640 | 75-50* | 2400 | VIS | VE |
NIR | 500-1050 | 500 | 600 | 750 | NB |
NIR | 500-1050 | 220-150* | 1200 | 750 | NC |
NIR | 600-1100 | 350-300* | 830 | 800 | SI |
NIR | 600-1100** | 500** | 300 | 1000 | IA |
NIR | 600-1100 | 500 | 600 | 1000 | IB |
光谱仪分辨率表
狭缝宽度 (μm) | ||||||
光栅线对数(lines/mm) | 10 | 25 | 50 | 100 | 200 | 500 |
300 | 1.0 | 1.4 | 2.5 | 4.8 | 9.2 | 21.3 |
600 | 0.40-0.53* | 0.7 | 1.2 | 2.4 | 4.6 | 10.8 |
830 | 0.32 | 0.48 | 0.93 | 1.7 | 3.4 | 8.5 |
1200 | 0.20-0.28* | 0.27-0.38* | 0.52-0.66* | 1.1 | 2.3 | 5.4 |
1800 | 0.10-0.18* | 0.20-0.29* | 0.34-0.42* | 0.8 | 1.6 | 3.6 |
2400 | 0.09-0.13* | 0.13-0.17* | 0.26-0.34* | 0.44-0.64* | 1.1 | 2.7 |
3600 | 0.06-0.08* | 0.10 | 0.19 | 0.4 | 0.8 | 1.8 |
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