J200 激光光谱元素分析系统

硬件特点
    ? J200激光光谱元素分析系统可对样品进行全元素快速检测，同时可将固体样品的剥蚀颗粒直接送入ICP-MS系

       统，实现ppb级精确分析。弥补了ICP-MS不能测量部分轻元素的缺憾，也有效避免了ICP-MS分析中繁杂的样

       品前处理过程及可能引入的二次污染。
    ? J200激光光谱元素分析系统可与市面上绝大多数主流品牌ICP-MS的联用。
    ? J200激光光谱元素分析系统配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设置

       可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，无需人为拆卸。
    ? J200激光光谱元素分析系统的硬件采用模块化设计，易于更新。激光器和光谱仪（检测器）可根据样品的种

       类及用户的研究目的进行升级，两者均不受外界环境温度影响，无需进行特殊的环境控制，使用寿命长。
    ? J200的激光能量和激光光斑大小连续可调，激光脉冲能量稳定一致，可实现样品分层剥蚀、夹杂物和微光斑

       分析（直径最小可达5μm）、元素分布制图、高精度定量等多种分析。
    ? J200激光光谱元素分析系统采用ASIzl技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了样品

       表面凹凸不平导致剥蚀不均匀的问题；激光能量稳定阀确保到达样品表面的激光能量稳定一致；3-D全自动操

       作台。
    ? J200具备双摄像系统，分别用于广角成像和放大观察某一样品区域。

软件特点
       J200的系统软件能实现对所有硬件组件的控制，能提供多种采样模式，包括直线、曲线、随机点、网格任意大小和自定义采样等，通过设置参数，可在无人值守的条件下自动进行大面积采样。

       ASI公司zl的TruLIBS™数据库是真正的等离子体发射光谱数据库，与NIST数据库相比，TruLIBS™数据库能快速、准确地识别复杂的元素谱线，各种搜索功能，如波长范围、元素种类和等离子体激发态，将搜索时间缩短至几秒。TruLIBS™同时允许用户直接上传元素激光诱导特征谱线，进行谱峰的识别和标记。

       J200内置的数据分析软件功能强大、分析速度快。能任意选取谱线及背景，自动计算谱线的净强度；计算两个波峰之比；自动计算所有波峰的标准偏差；同步分析所有文件夹及目录下的测量数据。多次采样时，软件自动统计监测LIBS的强度 ，监控信号质量，获得精确的定性和定量分析结果。

       数据分析软件具有单变量和多变量校准曲线制定功能，易于完成高精度定量分析。单变量标定曲线对于基质较为简单的样品分析效果较好。多变量标准曲线用于分析基质较为复杂的样品，例如土壤、植物样品等，以减少基质中其它元素对目标元素的影响，提高分析准确性。

     此外，J200的数据分析软件还具有PCA、PLS-DA、多参数线性回归等多种化学统计分析功能。可对样品进行快速分类鉴别，并可通过样品某一特定元素的二维或三维分布制图，形象展示样品元素的分布。