【技术特点】-- 美国应用J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）

J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）可将大量的等离子光耦合到检测器模块，此功能可实现高的灵敏度性能，通过对各种材料的不同干扰进行广泛测试的证明，ASI的化学计量软件包为我们的客户增加了另一层次的分析能力，固态锂离子电池装置深度剖面的激光诱导击穿光谱分析（LIBS），使用J200 LIBS仪器快速监测原始锂离子电池电极材料的成分，生产线操作员可以使用同一台J200仪器简单地运行准备好的测量配方以进行常规质量控制工作，或者实验室科学家可以使用该J200仪器进行前沿的元素研究，该仪器还包括最适合客户应用的光谱仪类型，可为每种分析情况提供且合适的解决方案。

设备优势及特点：

1、J200 LIBS仪器对红宝石-沸石中的宝石进行化学成像；

2、LIBS对of钽矿的地球化学指纹图谱；

3、LIBS对半导体引线框架上的薄焊料镀层进行快速铅（Pb）分析；

4、激光诱导击穿光谱仪（LIBS）进行植物分析；

5、应用Spectra的J200 LIBS建立法证玻璃分析的信心；

6、激光诱导击穿光谱法（LIBS）快速分析采矿样品；

7、激光诱导击穿光谱法（LIBS）进行氟分析；

8、LIBS用于土壤中的大量元素和微量元素分析。

J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）专为处理痕量元素分析而设计-那些需要高灵敏度和准确性的分析，该仪器能够监测具有分析意义的单个或多个元素，ASI专有的化学计量软件利用一组高度复杂的统计算法为我们的LIBS仪器增加了材料鉴别能力，Axiom具有简单直观的图形界面，允许多个用户使用不同的访问权限来操作仪器软件，使用J200 LIBS仪器进行可重现的测量以实现可靠的质量控制。

J200 LIBS系统特色 
     高稳定Q开关, 短脉冲Nd:YAG 激光 可选择多波长 < 5 nsec at 213 nm，创新的模组化设，因分析需求，提供三种LIBS 检测器选择。
    稳定激光能量的光闸设置 ，高分辨双CMOS相机系统， 可用于宽视野观测样品表面特征，应用光谱公司的 Flex 样品室内置气体模组可优化气流和颗粒清洁能力，满足不同测量要求，先进的微集气管设计，可尽可能的减少排气，防止集结剥蚀颗粒，消除记忆影响。   
    双通道高精度质量流量控制器和电子控制阀 

    自动样品高度调整功能 
     J200激光诱导击穿光谱仪采用ASIzl技术：剥蚀导航激光和样品高度自动调整传感器相结合，解决了若样品表面凹凸不平而剥蚀不均、导致元素含量值误差大的问题；激光能量稳定阀确保了到达样品表面的激光能量均匀，使所有采样点的激光烧蚀均匀一致；3-D全自动操作台最大行程可达100mmx100mmx36mm，XY行程分辨率0.2μm，Z行程分辨率0.1μm， 优于其它任何同类产品。 
      J200激光诱导击穿光谱仪可对固、液、气等样品进行全元素LIBS快速检测
      J200激光诱导击穿光谱仪配备有固体样品室，还可根据用户需求同时配置气体、液体样品室，并通过设置可自动切换的光路系统，实现固、液、气体样品室在同一系统中的自动化切换，测量过程中无需人为拆卸。

系统配置

     主机系统：包括激光器及控制系统，激光传输光学元件，样品台、样品室、气体管路系统等、样品成像系统等； 
     等离子体光谱检测器：Czerny Turner光谱仪/ICCD相机、阶梯光栅光谱仪/ICCD相机、同步4/6通道CCD光谱仪三种LIBS检测器可选； 
    软件系统：系统操作软件、数据分析软件、TruLIBS发射光谱数据库、化学统计软件。

【技术特点对用户带来的好处】-- 美国应用J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）

【典型应用举例】-- 美国应用J200激光诱导击穿光谱仪（LIBS）