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XS 微量天平

tel: 400-6699-117 9999

梅特勒-托利多天平台/天平罩, 具有一流可读性的双量程技术。

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技术特点

【技术特点】-- XS 微量天平

小于 0.8ug 的重复性对于获得更优称量可靠性来说至关重要的。 XS 微量天平可减少不必要的重复测试以及对昂贵样品的浪费,同时可保证在称量zei小的微量样品时也具有准确的称量结果。

易于操作

具有可定制化的 XS 触摸终端可确保操作更加简单、直观及无差错。

用户指导过程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 实验室软件可在天平触摸屏上显示的灵活的 SOP 用户指南。 利用自动数据处理、计算和报告,具有 LabX 软件的天平可以轻松实现过程安全性和可追溯性要求,并支持您实现无纸化实验室。

扩展更加智能

每个 XS 微量天平可以根据应用要求进行优化。 即使在恶劣的称量条件下,U 型去静电装置电极等配件依然可确保您称量结果的准确性与再现性。



【技术特点对用户带来的好处】-- XS 微量天平


【典型应用举例】-- XS 微量天平



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