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台式微聚焦XRF镀层测厚仪 - 五金电镀

tel: 400-6699-117 1000

日立在线测厚仪, 日立微聚焦XRF镀层测厚及材料分析光谱仪,可用于电镀、PVD和CVD操作的快速质量控制和验证测试,不论您在检测小配件、大组件或复杂配件,都能让您在几秒内轻松得到正确的结果。

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技术参数 


正比计数器

半导体

高分辨率SDD探测器

Zn / Fe, Fe 合金
Cr / Fe, Fe 合金
Ni / Fe, Fe 合金

✔✔

✔✔✔

ZnNi / Fe, Fe 合金
ZnSn / Fe, Fe 合金

✔✔

✔✔✔

NiP / Fe
NiP / Cu
NiP / Al


(只是厚度)

✔✔
(只是厚度)

✔✔✔
(厚度和成分)

Ag / Cu
Sn / Cu

✔✔

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Cr / Ni / Cu / ABS

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Au / Pd / Ni /CuZn

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WC / Fe, Fe 合金
TiN / Fe, Fe 合金

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纳米级薄膜分析

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多层分析

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IEC 62321 RoHS筛选

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产品对比

正比计数器系统


X-Strata 920

Compact Eco

MAXXI Eco

MAXXI 5

元素范围

Ti - U

Ti - U

Ti - U

Ti - U

样品舱设计1

开槽式

封闭式

封闭式

封闭式

XY样品台选项

固定,加深,程控

固定,手动

固定,手动

固定,程控

最大样品

270x500x150mm

380x370x100mm

470x500x170mm

600x500x350mm

最多准直器数量

6

1

1

4

最小准直器

0.01x0.25mm (0.5x10mil)

0.3mm (12mil)

0.3mm (12mil)

0.1mm (4mil)

软件

SmartLink

X-Master

X-Master

X-Master

半导体系统


Compact Eco PIN

MAXXI Eco PIN

MAXXI 5 PIN

元素范围

Ti - U

Ti - U

Ti - U

样品舱设计1

封闭式

封闭式

开槽式

XY样品台选项

固定,手动

固定,手动

固定,程控

最大样品

380x370x100mm

470x500x170mm

600x500x350mm

最多准直器数量

1

1

4

最小准直器

0.1x0.3mm (4x12mil)

0.1x0.3mm (4x12mil)

0.2x0.05mm (8x2mil)

软件

X-Master

X-Master

X-Master

高分辨率SDD


MAXXI 6

元素范围

Al – U

样品舱设计1

开槽式

XY样品台选项

固定,程控

最大样品

500x450x170mm

最多准直器数量

4

最小准直器

0.05x0.05mm (2x2mil)

软件

SmartLink


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