铂悦仪器（上海）有限公司薄膜应力测试仪参数

铂悦仪器（上海）有限公司

• 型号FSM 128
• 中文简称薄膜应力量测仪
• 英文简称FSM 128 Film stress and substrate warpage test equipment
• 产地美国
• 上市时间2012年

铂悦仪器（上海）有限公司

• 型号FSM 500TC
• 中文简称薄膜应力量测仪
• 英文简称FSM 500TC Film stress and substrate warpage test equipment
• 产地美国
• 上市时间2012年

铂悦仪器（上海）有限公司

• 型号FSM360
• 中文简称全自动紫外线芯片应力测量仪FSM360
• 英文简称FSM360
• 产地美国
• 上市时间2012年

铂悦仪器（上海）有限公司

• 型号FSM 413
• 中文简称红外干涉测量设备FSM 413
• 英文简称FSM 413
• 产地美国
• 上市时间2012年

铂悦仪器（上海）有限公司

• 型号薄膜应力和硅片翘曲检测仪
• 中文简称薄膜应力和硅片翘曲检测仪
• 英文简称Thin film stress and silicon wafer warpage tester
• 产地美国
• 上市时间2016年10月30日

铂悦仪器（上海）有限公司

• 型号Line Card
• 中文简称薄膜应力量测仪Line Card
• 英文简称Line Card
• 产地美国
• 上市时间2018年10月30日

铂悦仪器（上海）有限公司

• 型号连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
• 中文简称连续式四探针片电阻及光学膜厚测量设备
• 英文简称Continuous four probe sheet resistance and optical film thickness measuring equipment
• 产地美国
• 上市时间2014年10月30日