高德英特（北京）科技有限公司二次离子质谱/离子探针参数
发布时间：2024-05-03 13:17
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高德英特（北京）科技有限公司
- PHI TRIFT V nano SIMS
- 飞行时间二次离子质谱仪
- SIMS-TOF
- 日本
- 2010年11月30日
- 分辨率：>10,000
- TRIFT质量分析器
- 30 kV LMIG with Bi, Au, or Ga emitter
- 5 轴样品台
- 350 L/秒抽速分子涡轮泵
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