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高密度光存储技术实验室

高密度光存储技术实验室

400-6699-117转1000

  1.可录光盘染料专用高速旋涂系统

  STEAG-Hamatech公司制造,该旋涂机的关键部件和生产线上的完全一样,这保证了实验室工艺与生产线工艺最大限度的兼容。该旋涂机最高转速达每分钟10000转,加速度高达每分钟6000转/0.1秒,转速控制误差在0.5%以下。制备盘片全部由微机控制,机械手执行,用于高密度和超高密度可录光盘的研究和开发。

用于高密度可录光盘制备的高速旋涂系统

  2. SQ1D光盘专用多层介质膜高速控制设备

  a: 整机 b: 自动送片部分 c: 反射膜控制部分 d: 保护膜或粘合膜控制部分

  SQ1D光盘专用多层介质膜高速控制设备是国际著名的光盘设备制造商M2公司根据我们的要求提供的一台适合于实验室使用的离线设备,M2公司对原来设备进行了部分改装,使其具有自动取片的功能。

  设备包含以下单元

  (1)自动送片机械手

  (2)与注塑机机之界面手臂

  (3)盘片翻面手臂

  (4)金属溅镀机

  (5)保护胶旋涂机/粘合机

  (6)Dr. Schenk 线上检测单元

  (7)光盘承接机

  (8)正压空气洁净室

  设备功能

  制备CD可录光盘反射膜及保护膜的周期为3.5秒钟,合格率97%。

  制备DVD可录光盘反射膜及粘合膜的周期为9秒钟,合格率95%。

  3.多种型号多靶磁控溅射设备

  可供溅射的有GeTeSb靶、AgInSbTe靶、ZnS-SiO2靶、Si靶、Al靶、Sb靶、Ag靶、Ti靶等多种靶材。可以进行高密度、超高密度相变、磁光光存储薄膜和光盘的制备,其它光电子功能薄膜材料的制备。

  4.相变光盘初始化仪

  日本日立公司制造,功率范围0~1800 mW,转速为0~12 m/s,最大步进范围192 μm。使用的模式为等线速度(CLV)。可用于CD-RW和DVD-RW的初始化。

  5.母盘制作和测试系统(光盘工程中心)

  国际一流及国内最先进的光盘母盘制作和测试系统(SONY SLIM-DHD), 该系统也是中国大陆第一台双光束光盘母盘刻录系统,具有极高旋转精度的刻录机、独特工艺的无电化学沉积、超净空间中的自动化工艺流程和完整的测试设备,可用来制作各种类型的只读、可记录和可重写CD/DVD光盘母盘。

  6.光盘盘基测试系统

  主要测量盘基表面缺陷(最小缺陷0.3微米)、盘基表面粗糙度(纵向分辨率2nm)、盘基槽宽和槽深均匀性(取样光斑大小小于200微米)等,通过调整也可用于一般材料表面的分析。

  7.光存储材料动态测试系统

  主要测量磁光可擦重写介质、直接重写相变介质和一次记录介质的动态光存储性能,光源波长632.8nm或514.5nm(488nm),信号频率100KHz-3.7MHz,CNR范围0-60dB。

  8.光存储材料静态测试系统

  主要测量磁光可擦重写介质、直接重写相变介质和一次记录介质的动态光存储性能,光源波长632.8nm或514.5nm(488nm),数值孔径0.6或0.85或1.5(SIL透镜),脉宽50ns-5ms,记录功率1-30mW。

  9.超分辨光盘测试系统

  主要测量超分辨光盘的动态读出性能。光源波长650nm,信号频率1-14MHz,转速500-3600rpm。

  10.CD-R和CD-RW光盘测试系统

  主要测试包括WOBBLE幅度、CNR、ATIP误码分布和最大连续出错数等。工作波长780nm,信号频率100KHz-5MHz。

  11.三维全息光存储材料测试系统

  主要测试光全息存储光盘材料的灵敏度、均匀性、光栅频率、衍射效率、光强效应、误码率等。

  12.DVD-R光盘测试仪

  日本EXPERT公司进口,可以测试DVD-R光盘记录前后的所有标准参数。

  13.波长扫描和入射角可变全自动椭圆偏振光谱仪

  主要测试薄膜等固体材料的光学、介电常数(n,k,e1、e2,a)和膜厚等,扫描波段250-830nm。

  14.小光斑测试仪

  通过光纤扫描精确测试小光斑的近场和远场光强空间分布。

  15.蓝光激光静态测试装置