场发射扫描电子显微镜技术参数等简介
技术参数
1、分辨率 2、放大倍数 3、加速电压 4、低压范围 5、探针电流 6、样品室 7、样品台 8、倾斜角
主要用途
适用于对金属、陶瓷、半导体、矿物、生物、高分子、复合材料和纳米级一维、二维和三维材料的表面形貌进行观察（二次电子像、背散射电子像）； 可进行微区的点、线、面成分分析； 指定元素在形貌上成象； 晶体材料的晶体取向及微区取向分析、结构分析、正反极图、欧拉空间分析等； 图象定量分析。
仪器类别
0304070201 /仪器仪表 /光学仪器 /电子光学及离子光学仪器 /扫描式电子显微镜
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