X射线荧光光谱仪分析误差的来源
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面:
1. 采样误差:
非均质材料
样品的代表性
2. 样品的制备:
制样技术的稳定性
产生均匀样品的技术
3. 不适当的标样:
待测样品是否在标样的组成范围内
标样元素测定值的准确度
标样与样品的稳定性
4. 仪器误差:
计数的统计误差
样品的位置
灵敏度和漂移
重现性
5. 不适当的定量数学模型:
不正确的算法
元素间的干扰效应未经校正
推荐
X射线荧光仪器分析误差的来源主要有以下几个方面:
1. 采样误差:
非均质材料
样品的代表性
2. 样品的制备:
制样技术的稳定性
产生均匀样品的技术
3. 不适当的标样:
待测样品是否在标样的组成范围内
标样元素测定值的准确度
标样与样品的稳定性
4. 仪器误差:
计数的统计误差
样品的位置
灵敏度和漂移
重现性
5. 不适当的定量数学模型:
不正确的算法
元素间的干扰效应未经校正