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半导体特性测试仪

2021.8.31

  半导体特性测试仪是一种用于化学工程领域的物理性能测试仪器,于2016年05月01日启用。

  技术指标

  支持多达9个精密直流源测量单元,能够提供测量0.1fA到1A的电流或者1uV-210V的电压。

  主要功能

  参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度,同时继承了嵌入式Windows操作系统和吉时利交互式测试环境,为半导体科研及产业用户进行半导体器件特性分析提供了直观而高级的功能。

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