AFM与扫描电镜的区别
与扫描电镜的区别
可能有的人会问了，既然是测试材料表面的结构与形貌，SEM也是可以的，但是这二者的区别又在哪呢？
不同于SEM只能提供二维图像，AFM提供真正的三维表面图。同时，AFM不需要对样品的任何特殊处理，如镀铜或碳，这种处理对样品会造成不可逆转的伤害。其次，SEM需要运行在高真空条件下，AFM在常压下甚至在液体环境下都可以良好工作。这样可以用来研究生物宏观分子，甚至活的生物组织。和SEM相比，AFM的缺点在于成像范围太小,速度慢，受探头的影响太大。当然二者的工作原理也是不同的，SEM是利用电子与物质的相互作用。
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