梅特勒-托利多再度亮相BCEIA 2009
全球精密仪器的领导者梅特勒-托利多于2009年11月25日-28日在北京参加了由北京分析测试协会举办的第十三届北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA 2009），展示了近期全新上市的实验室称量设备、分析仪器、生命科学仪器、热分析技术及自动动化化学技术等，让观众现场体验梅特勒-托利多提供的完美实验室解决方案，感受全球最先进的分析技术和解决方案。
北京分析测试学术报告会及展览会（BCEIA 2009）是经中华人民共和国科学技术部批准，由中国分析测试协会主办的专业性国际学术交流和分析测试仪器展览会，每两年举办一次，已经成功举办了二十多年，在国内外享有较高的声誉。借助BCEIA这个专业平台，梅特勒-托利多致力于与更多业内专家分享在分析测试领域取得的杰出成果，共同探讨行业的发展方向，以先进的解决方案和技术服务，帮助客户提高生产效率，为人们的社会生活和发展做出贡献！
会上，气氛十分踊跃，新经典系列NewClassic天平，One Click®中文卡尔费休水份仪，DSC1差示扫描量热仪及RAININ多款手动/电动移液器等产品在此次展会上全新亮相，独立的展示区域、详细的样本资料和专业的销售团队，为观众带来一场饕餮盛宴。借助BCEIA强大的平台，迎来了来自各行各业的专业人员，纷纷在台前索取产品资料，了解产品的特性与应用。
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