近期，中国科学院物理研究所/北京凝聚态物理国家实验室（筹）的常云杰在副研究员葛炳辉、王玉梅指导下将赝弱相位物体近似理论和TCC理论相结合，研究高分辨像像衬随样品厚度的变化规律。在考虑低阶像差的条件下推导出高分辨像线性部分和非线性部分的解析表达式，从而定量给出两个部分随样品厚度变化的规律。并且发现线性部分和非线性部分分别是成像条件的奇函数和偶函数，从而提出了像差校正电镜成像中球差系数不为零的情况下分离线性和非线性部分的方法，即使用某成像条件及其相反数（正负球差系数及正负欠焦量）分别成像，直接通过两张图的加减获得线性部分和非线性部分。下图是利用模拟的正负球差系数的高分辨像进行线性非线性分离的结果。PCSI和NCSI分别是成像条件相反的两张高分辨像。

　　该研究结果将促进透射电镜高分辨像分析定量化，促进像差校正高分辨电子显微学的发展。以上结果发表在Microscopy (2016)。