众所周知，在分子结构鉴定过程中，串联质谱(MS/ MS)是非常关键的工具。Robert J.
Cotter利用高能量碰撞(达20keV)进行诱导解离，并在1993年率先发明和成功设计了第一个串联飞行质谱(TOF/TOF)。该质谱使用了两个双级反射器(rTOF/
rTOF)。为了在更广的质量范围内聚焦更多的离子，这种设计后来被单级反射器取代，之后又发展了出了弯曲场反射器，可以同时聚焦产生的所有离子。弯曲的场反射器后来在源后衰变质谱仪器中有广泛应用，岛津克雷斯托公司获得了该技术的授权，并先后推出了Kompact
IV, AXIMA CFR和AXIMA CFR+质谱以及AXIMA Confidence质谱仪。2004年，岛津克雷斯托公司推出了简约化商品仪器Kratos
AXIMA
TOF2，之后推出了Performance质谱仪。总共已有超过400台弯曲场反射器质谱被生产和出售。高能碰撞(20keV)的潜在的好处现在已经被认可，最令人兴奋的是在MALDI
TOF质谱上进行“Top-Down”或者“Middle-Down”蛋白质分析。