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离子迁移谱简介

2018.8.12

    IMS,是离子迁移谱(Ion mobility spectroscopy)的简称,离子迁移谱(ion mobility spectrometry,IMS)技术是从20世纪60年代末发展起来的一门检测技术,它以离子迁移时间的差别来进行离子的分离定性,借助类似于色谱保留时间的概念,起初被称为等离子体色谱。

    基于气相离子在弱电场中的迁移率来检测识别不同种类物质的一种常压分析化学方法,又被成为常压质谱。 [1] 

    IMS在环境气压条件下进行工作.。特别适合于一些挥发性有机化合物的痕量探测,如毒品、爆炸物、化学战剂和大气污染物等。

    IMS系统的核心部分是迁移管,迁移管分为电离区和迁移区两部分,中间以离子门分隔开。被测样品被加热气化后,由载气带入电离区,载气分子和样品分子在离子源放射性Ni的作用下发生一系列的电离反应和离子-分子反应,形成各种产物离子。在电场的作用下,这些产物离子通过周期性开启的离子门进入迁移区。一方面从电场获得能量作定向漂移, 另一方面与逆向流动的中性迁移气体分子不断碰撞而损失能量,由于这些产物离子的质量, 所带电荷, 碰撞截面和空间构型各不相同, 故在电场中各自迁移速率不同,使得不同的离子到达探测器上的时间不同而得到分离。


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