2013全国表面分析科学与技术应用学术会议在京召开
四川材料与工艺研究所 陆雷
来自四川材料与工艺研究所陆雷老师做了《铍薄膜的射频制备技术及性能研究》的报告。
陆老师介绍了一下自己的研究背景，以及薄膜制备与AES联用装置、射频磁控溅射技术特点与原理、薄膜制备工艺流程，Be薄膜的AFM、SEM、AES、XPS分析。
研究表明采用射频磁控溅射法成功地在硅、铜和铀基片上制备了Be薄膜，Be薄膜表面比较平整、致密且具有较低的粗糙度；通过真空联接的俄歇电子能谱仪分析，Be薄膜中的Be元素主要表现为金属态，基本未向Si、Cu和U基片内部扩散；大气环境下，Be薄膜表面仅发生轻微的氧化反应。
中国计量科学研究院纳米新材料计量研究所 王海
来自中国计量科学研究院纳米新材料计量研究所王海老师做了《国家计量院表面分析计量研究》的报告。
通过系统研究，揭示了XPS测量几何条件对测量结果的影响，优化和完善了保证测量结果准确可靠的测量几何条件，从而有效降低了晶体取向和光电子衍射效应的影响，使得测量结果的不确定度由20%降至5-7%。国际关键比对（CCQM-K32）结果表明，中国计量科学研究院的测量结果取得了国际等效度。
利用XPS技术开展了Fe-Ni合金薄膜组成的准确测量研究，主要考察了不同来源的相对灵敏度因子对测量结果的影响。利用Fe-Ni合金薄膜标准物质得到的相对灵敏度因子计算测试样品的元素组成时，得到的结果更加准确、有效。国际关键比对（CCQM-K67)结果表明，中国计量科学研究院的测量结果以其他国家计量院的结果达到了等效一致。
赛黙飞世尔科技表面分析市场经理 Richard G.White
来自赛黙飞世尔科技表面分析市场经理的Richard G.White先生做了《Recent Advances in XPS Instrumentation from Thermo Fisher Scientific》的报告。介绍了赛默飞XPS各个产品，包括ESCALAB 250Xi多功能表面分析XPS能谱仪、K-Alpha X射线光电子能谱、NORAN系统7全谱图像X-射线微区分析系统、Theta Probe平行角分辨XPS微探针等。
高德英特（北京）科技有限公司 陈文徵
高德英特（北京）科技有限公司陈文徵先生做了《XPS 能谱数据处理及判读：电镀前后金属表面的化学变化及定量分析》的报告。
岛津企业管理（中国）有限公司 龚沿东
岛津企业管理（中国）有限公司龚沿东先生做了《高灵敏XPS—Axis Ultra DLD 检测器——采谱和成像》的报告。
北京艾飞拓科技有限公司 高聚宁
北京艾飞拓科技有限公司的高聚宁先生做了《飞行时间质谱最新进展和应用》的报告。
会后参会代表合影留念
