X射线分析的简介
利用 X射线与物质间的交互作用来分析物质的结构、组织和成分的一种材料物理试验。
X射线是德国人W C 伦琴于 1895年发现的。它是一种肉眼不可见的射线，但能使感光材料感光和荧光物质发光；具有较强的穿透物质的本领；能使气体电离；与可见光一样，它是沿直线传播的，在电磁场中不发生偏转。由于当时对其本质不甚了解，因此称之为X射线。后人为了纪念其发现者，也称为伦琴射线。
1912年，德国人Mvon劳厄等通过实验证实，X射线与晶体相遇时能发生衍射现象，证明了它是一种波长很短的电磁波，从而奠定了X射线衍射学的基础。1912～1913年英国人布喇格父子在进行大量的晶体结构分析的基础上阐明，可以将晶体的衍射现象看作是晶体某些晶面的“镜面反射”的结果。当这些晶面与 X射线入射方向所形成的角度θ、该组晶面的晶面间距d和入射线的波长λ之间符合2dsinθ=nλ条件时才能产生反射。式中n为任意正整数，称为衍射级数。这一方程称为布喇格定律。
x-ray是波长在0.01~50nm范围内的电磁辐射，x-ray与所有粒子相同，也具有波粒两象性。
波动性用波长或频率描述， v=c/λ，粒子性用能量描述，其关系有：
E=hv=h·c/λ，
动量P=h/λ。
由于x-ray能量较大，常用能谱表示。
X-射线衍射分析 x-ray 的波长与物质微观结构中原子、分子间距离相当，可被晶体衍射，可以判断晶体的结
推荐
