XRF操作问题解答
R o HS测试时，为什么记数率变化很大？
答：由于材料不同，X荧光对不同的材料的激发效率就是不同的，所以记数率不相同的，同时，是因为金属成份比较复杂，其测量的记数率变化更大，其变化并不影响实际的测量结果。
2. 样品测试时间有多长？
答：测试时间越长，其测量的精度会越高，一般测量的时间与样品的测试记数率有
关，记数率越小，所用的测量的时间越长，一般测试时间120-200秒，记数率较小时，我们建议200秒为佳。
3. 液体，油墨可以在贵公司仪器测试吗？
答：可以，我们的仪器可以测液体，粉体和固体中的有害金属成份，测试方法非常
简单。
4. 为什么测试结束后，没有弹出含量结果框？
答：因为样品命名适用了特殊字符，样品命名不能使用“/，﹨：，？特殊字符，这是
由Windows操作系统的限制。
5. 为什么一个峰，一半是汞的颜色，一半是铅的颜色？
答：（1）峰漂移，这种情况应重新初始化。
（2）其他元素的干扰。这种元素的并非是汞和铅。 6.为什么测不锈钢要把电流降低到150微安？
答：因为不锈钢容易受激发，电流太大造成记数率太高，造成的光谱堆积现象严重，
即得测量的误差加大。
7.为什么不可测针脚？
答：针脚是可以测试的，如果测试其ROHS指标，可直接进行测试，如果测试镀层，
需要使用小的准直器，并使用标样标定，同时要测试多点的平均值，这样就可以达到测试的要求。
8.为什么测量小样品时，要用直径小的准直器？
答：在测量小样品时，使用大的准直器是可以测量的，其测量的结果比较准确。使
用小的准直器多是测量样品的某点含量的样品的干扰，如：测量PCB板上的焊点，可以减少“绿油”的影响。
9.为什么相近元素，会相互干扰？
答：因为相近元素的电子受激发的能量相近，光谱会相互叠加，同时会互相抬高背
景。所以容易相互干扰。
10.为什么测不出锡中的镉？
答：锡中的镉是可以测量出的，只是由于目前的锡标样很多没有镉的标准含量值，
所以目前没有测量其结果，同时因为锡峰干扰了镉的峰，测试的结果偏差稍大。 11.你们仪器的精确度和准确性怎么样？
答：仪器的精度由于样品和含量的不同，其测量的精度不同，以塑胶为例：1000ppm
左右的含量其偏差在30ppm左右；在100ppm左右的含量，其偏差为10ppm左右。高含量的绝对偏差大，但相对偏差小；低含量绝对偏差小，而相对偏差大。
12.为什么不能测量出六价铬、PBB和PBDE的含量？
答：因为X荧光原理决定的，X荧光光谱仪只能测量物质中的元素的总含量，而对
其的化合状态无法判别，所以，六价铬，PBB和PBDE的含量无法检测。
13.仪器对周围环境有什么要求？
答：环境温度16-30℃，最好有空调。相对温度≦70％，越低越好。
14.同样的样品，他们测量结果和SGS的测量结果为什么不一样？
答：X荧光测试设备属于表面测试，对不同物质，表面穿透能力不一样。SGS是湿
化学分析法，它是将样品均匀溶解，然后进行测量。如果多测的材质是均匀的
样品，两者的测量结果相当，其相差在同等数量级上。如果表面有涂附层，那么两者测量的偏差是比较大。
15.为什么测试会弹出“除零错误”？
答：选择工作曲线不正确，准直器放错，测试时间太短，样品太小，记数率偏低都
有可能出现“除零错误”，同时，如果工作曲线的数据被破坏，同样会造成“除零
错误”：如果操作系统使用在“来宾”帐户下，同样也会出现“除零错误”的。
16.记数率偏低，为什么？
答：跟样品的材质、大小和厚度有关：同时，探测器或X光管处于有污染物，同样
对探测记数率有很大的影响。
17.曲线出现 负 斜率，为什么？
答：（1）标样的 谱 测试不正确，或者含量值输入不正确
（2）人为勿加入非标样点，即数据错误。
18.为什么测试时，有很高的峰谱，而结果确是ND？
答：这种情况是由于其它元素光谱的干扰，其干扰在软件中已经做了校正处理，所
以看到的结果是ND的。还有一种情况就是软禁中的标准测试数据有错误，或者被更正。
19.为什么重新调出以前测试的样品谱结果不一样？
答：（1）选择的样品类型与上次测量的类型不一样。
(2)这个样品谱无意中被另外的样品测试时覆盖过了。
20.在测试中，为什么对提示样品太小？
答:这一问题出现在成份分析软件中，在ROHS软件中无此现象，其多是在“一起参
数”选项中选择了“控制记数率”项后，在测量时因为以下原因产生：
（1）选错工作曲线
（2）样品没有放好或太小
（3）选错准直器
21.为什么测锡中的铅，铅的峰会漂移？
答：其不是漂移现象，是观察谱图的错觉，那是因为锡中掺有铋元素，铋在铅峰的
附近而造成的错觉。
22.为什么在ROHS测试无论测什么东西记数率都只是几十到几百？
答：探测头或准直器内可能有杂物遮挡。另外，仪器光路系统故障，或者仪器的设
置参数被人为修改。
23.为什么ROHS在测试时，更换准直器后，软件会死机，关掉重新打开又可恢复
使用？
答：这种现象很少见过，最有可能造成测试软件死机的Windows操作系统故障引起。
24.为什么在ROHS测试完后数据会丢失？
答：（1）保存路径不正确
（2）非正常关机
（3）使用了特殊字符
25.为什么ROHS测金属的结果与SGS有很大的差异？
答：（1）光谱分析为表面物理分析，SGS采用化学溶样分析方法，两种测量方法
之间的差别。
2）金属标样自身的误差
(3)金属标样表面有镀层 26.为什么谱的保存路径要和软件的安装路径一致？
答：软件本身设计时候的要求
27.为什么有时选择自动调节记数率，而有时则不选？
答：这与测试的样品和采用的测量方法有光，原则是：当计算结果与样品的记数率
无关时，才可以采用调试记数率。
28.为什么 建议 每次开机都要先初始化？
答：这样可以保证仪器的硬件条件处于最佳的状态。
29.为什么开机先要预热30分钟？10分钟可以吗？
答：仪器充分预热可以保证测试数据的准确性，我们建议预热30分钟。同时还有快
速预热方法，有我们工程师培训，可以达到10分钟预热。
30.为什么用第四条曲线测PCB板的铜箔时，明显有溴的峰，但怎么会报ND？
答：因为溴的峰是绿油部分的，软件自动将非金属部分的影响元素过滤掉。在新的
软件中将去除对金属中溴的测量。
31.为什么表面镀锡的金属材料，一定要选用锡中的铅工作曲线测量，而不能用金属
工作曲线呢？
答：因为X荧光是表面分析测试仪器，如果金属表面镀锡，那么测量的最终结果中，
锡的成份占主要的，如果用金属的类型去测试，其结果误差很大。 32.为什么测标样681时，测得数据与标样含量偏差较大？
答：681相对680而言，含量是比较低，对于的含量的样品，测量的数据受到背景
的影响比较大，所以测试结果相对较大，但其测量的绝对偏差要小一些。但是680的偏差如果不大，那对ROHS检测判定就没有什么问题。
33.为什么在同样条件下，连续测量两次的结果偏差比较大？我们究竟选用哪个结
果？
答：一般仪器同等条件测试的结果偏差大，有以下两种原因：
（1） 样品的不均匀造成的
（2） 仪器内部的对比的数据被认为更动。
（3） 仪器收到外界干扰，如：电源的干扰。
（4） 仪器发生硬件故障。
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产品技术
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