X光电子谱仪系统原理图

　　X光电子能谱仪由激发源、能量分析器和电子探测器这三部分组成。XPS技术主要应用于样品表面分析，分析的样品表面厚度一般为1~10nm（其中对于金属样品为3~5nm）。XPS分析原理为当一定能量的X射线轰击样品表面后，光子和外层电子产生光电效应后，从而激发样品表面的原子，原子达到激发态之后，放出特征能量的光电子，被后端的电子探测器记录下来。通过光电子结合能便能分析出元素的种类、激发光电子的轨道以及元素的化学价态。随后，魏博士向大家详细介绍了Thermo Scientific 光电子能谱仪在钢铁、太阳能、镀膜玻璃、聚合物、纤维、纺织方面的具体应用。

　　94年，赛默飞世尔科技成功收购英国VG公司，VG科技80年代进入中国市场，截止今年初已有八十九个用户，包括工业、大学、研究所及开放式测试中心等。目前XPS产品线完备齐全，涵盖了平行角分辨、俄歇谱仪、多功能XPS谱仪、工业化XPS测试系统、智能化XPS谱仪等，可满足不同用户的科研测试需求。报告中，魏博士简单介绍了赛默飞世尔科技的四款光电子能谱仪。