X射线荧光光谱仪（XRF）的基本分类
作为一种比较分析技术，在一定的条件下，利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析的仪器。
按激发、色散和探测方法的不同，分为：
X射线光谱法（波长色散）
X射线能谱法（能量色散）
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作为一种比较分析技术，在一定的条件下，利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光（次级X射线）而进行物质成分分析的仪器。
按激发、色散和探测方法的不同，分为：
X射线光谱法（波长色散）
X射线能谱法（能量色散）
