概述X射线衍射分析的应力测试
X 射线测定 应力以衍射花样特征的变化作为应变的量度。宏观 应力均匀分布在物体中较大范围内，产生的均匀应变表现为该范围内方向相同的各 晶粒中同名 晶面间距变化相同，导致衍 射线向某方向位移，这就是X 射线测量宏观应力的基础；微观应力在各晶粒间甚至一个晶粒内各部分间彼此不同，产生的不均匀应变表现为某些区域晶面间距增加、某些区域晶面间距减少，结果使衍射线向不同方向位移，使其衍射线漫散宽化，这是X射线测量微观应力的基础。 超微观应力在应变区内使原子偏离 平衡位置，导致衍 射线强度减弱，故可以通过X射线强度的变化测定超微观应力。测定应力一般用衍射仪法。
X射线测定 应力具有非破坏性，可测小范围 局部应力，可测表层应力，可区别应力类型、测量时无需使材料处于无 应力状态等优点，但其测量精确度受组织结构的影响较大，X射线也难以测定动态瞬时应力。
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