关于脉冲反射法超声波检测通用技术的分享交流
检测面的选择和准备 检测面的选择应思索以下几个方面：
1 检测面应是平面或规则面的工件外表；
2 检测面的粗糙度应≤6.3µm，外表应肃清杂物，松动氧化皮，毛刺，油污等。
3 被检测缺陷的位置、取向；
4 入射声束应尽可能垂直于缺陷反射面；
5 被检工件的材质、坡口方式、焊接工艺等；
6 依据探头的晶片尺寸、K值等肯定检测面宽度；
7 工件侧面反射波的影响；
8 变型波的影响等。
6.2 仪器与探头的选择
一、探伤仪选择
1. 仪器和各项指标要契合检测对象规范规则的请求。
2. 其次可思索检测目的，如对定位请求高时，应选择程度线性误差小的仪器， 选择数字式探伤仪更好。对定量请求高时，应选择垂直线性误差小，衰减器精度高的仪器，对大型工件或粗晶资料工件探伤，可选择功率大，灵活度余量高，信噪比高，低频性能好的仪器。对近外表缺陷检测请求高时，可选择盲区小，近辨别辨好的仪器。 主要思索：灵活度、分辨力、定量请求，定位请求和便携、稳定等方面。
二、探头选择
1. 型式选择：准绳为依据检测对象和检测目的决议： 如：焊缝——斜探头 钢板、铸件——直探头 钢管、水浸板材——聚焦探头(线、点汇集) 近外表缺陷——双晶直探头 外表缺陷——外表波探头
2. 探头频率选择 超声波检测灵活度普通是指检测最小缺陷的才能，从统计规律发现当缺陷大小为2时，可稳定地发现缺陷波，对钢工件用2.5~5MHZ，λ为：纵波2.36~1.18，横波1.29~0.65，则纵波可稳定检测缺陷最小值为：0.6~1.2mm之间，横波可稳定检测缺陷最小值为：0.3~0.6之间。 这对压力容器检测请求已能满足。 故对晶粒较细的铸件、轧制件、焊接件等常采用2.5~5MHZ。 对晶粒较粗大的铸件、奥氏体钢等因会呈现许多林状反射，(由资料中声阻抗有差别的微小界面作为反射面产生的反射)，也和资料噪声干扰缺陷检测，故采用较低的0.5~2.5MHZ的频率比拟适宜，主要是进步信噪比，减少晶粒反射。 此外应思索检测目的和检测效果，如从发现最小缺陷才能方面，可进步频率，但对大工件因声程大频率增加衰减急剧增加。对粗晶资料如降低频率，且减小晶片尺寸时，则声束指向性变坏，不利于检测远场缺陷，所以应综合思索。
3. 晶片尺寸选择： 准绳：
①晶片尺寸要满足规范请求，如满足JB/T4730-2005请求，即晶片面积≤500mm2，任一边长≤25mm。
②其次思索检测目的，有利于发现缺陷，如工件较薄，则晶片尺寸可小些，此时N小。铸件、厚工件则晶片尺寸可大些，N大、θ0小。发现远间隔缺陷才能强。
③思索检测面的构造状况 如对小型工件，曲率大的工件复杂外形工件为便于耦合要用小晶片，对平面工件，晶片可大一些。
4. 斜探头K值选择： 准绳：
①保证声束扫到整个检测断面，对不同工件外形要详细剖析选择。
②尽可能使检测声束与缺陷垂直，在条件答应时，尽量用K大些的探头。薄工件K大些，厚工件K可小些。
③依据检测对象选K： 如单面焊根部未焊透，选K=0.7-1.5，即在K=0.84-1时检测灵活度最高。
6.3 耦合剂的选用
6.3.1耦合就是完成声能从探头向工件的传送，它可用探测面上声强透过率来表示耦合的好坏，声强透过率高，表示声耦合好。 耦合剂——在工件与探头之间外表，涂敷液体、扫除空气，完成声能传送该液体即耦合剂。 实践耦合剂声阻抗在1.5~2.5×106公斤/米2，而钢声阻抗为45×106公斤/米2。所以靠耦合剂是很难补偿曲面和粗糙外表对探测灵活度的影响。 水银耦合效果最好，声阻抗为：19.8×106kg/m2与钢接近，但有毒、很贵，故不引荐。
对耦合剂的请求：
①对工件外表和探头外表有足够浸润性，并既有活动性，又有附着力强，且易清洗。
②声阻抗大，应尽量和被检工件接近。
③对人体无害，对工件无腐蚀作用。
④来源广，价钱低廉。
⑤性能稳定。
6.3.2影响声耦合的主要要素
1. 耦合层厚度d： 在平均介质中： 最好：d=n·2l 即半波长整数倍时声压透射率为1，简直无反射，声能全部透射。好象耦合层不存在。 最不好：d=(2n+1)4l即四分之一波长奇数倍时，声压透射率最低，反射率最高。 此时相当于钢维护膜直探头探测钢件。依据平均介质中异质薄层对声波的反射特性，其声压反射r为： r÷÷øöççèæ-+÷÷øöççèæ-= 在非平均介质中，依据教材2.37式，当d=n2l时和d=(2n+1)4l, 且Z2=31ZZ时，声强透射率最大，超声检测大多状况满足次种条件。 由式可看出：当耦合层d=2l时，r=0、t=1，灵活度能够保证，但发射反射 脉冲后面干扰振荡增加，也影响缺陷检测，故实践上常运用d→0的润滑工件使耦合层d→0，效果好。 假如再增加耦合层厚度，能够使界面波和工件屡次反射波分得很开，探伤图 形变得很明晰，如控制在底面回波在第二次界面回波前呈现，对缺陷判别有利(这是水浸探伤中的水层耦合原理)。 为使耦合层耦合效果好，由教材(2-38)式和(2-39)式可知，则必需使r≈0，此时t≈1，或T=22121)(4ZZZZ+达最大，即声能从探头全部透到工件，则由声压反射率表示式知，r≈0得Sind2≈0，即d≈0或d→0，但d≠0，即工件外表越平整，耦合剂层厚d越接近零，耦合越好。
2. 工件外表粗糙度影响 由上面平均介质中异质薄层对声波的声压反射率表示式可知d→0时，可得 r≈0。耦合效果越好。表示工件外表光亮度越光越好，外表粗糙度越差。则d越大耦合越差。但是当外表太光后探头和工件之间耦合层由于外表张力吸附作用，变成真空使探头挪动艰难。同时因真空不能传播声波，使耦合变差。 普通工件请求粗糙度Ra=6.3μm
3. 耦合剂声阻抗影响 普通液体耦合剂声阻抗均比工件声阻抗小，故对同一探测面(光亮度相工件 材质相同)声阻抗越大的耦合剂耦合效果越好。
4. 工件外表外形影响 平面工件耦合最好。 凸曲面和凹曲面均耦合不好。 在实践工作中，T最大处声压透射率为平面接触时，透射率一半时的曲率半径 为声耦合临界曲率半径R0。 图4-2则：R0=0.45fD2Zt/C0Z0(1+Zt/Zm) f——频率，D——晶片直径，Zt——维护膜或斜透声楔声阻抗， Z0——耦合剂声阻抗，Zm——工件声阻抗，C0——耦合剂声速。 当工件曲率半径R与临界曲率半径R0比拟R/R0=1时，修正值2.5dB以下， R/R0≥1时，可不修正，此时修正值为2.5dB以下，当R/R0<1时要修正，可用实测修正。 大致值为：R/R0=0.5 0.3 0.2 0.1 1 4 5dB 7dB 9 dB 15dB 2.5dB 0dB 5. 外表耦合损耗测定与补偿
① 耦合损耗测定 试块和工件在材质、反射体、探头、仪器相同条件下，仅外表光亮度不同测出相同反射体(声程相同)回波高度dB差。声程不同时，应对声程变化惹起的dB差停止修正。
② 补偿 将试块上反射体回波高调至某高h，再进步测得的dB值，即为补偿。 应用底波反射横波耦合损耗测试实例： 用两个相同规格斜探头，作一发一收方式先在试块上相对探测，分别测得两探头相距一跨距和二跨距时底面回波高H1和H2，在示波屏上作出H1和H2连线。再将两探头在工件上相对探测，同样分别测得两探头相距一跨距和二跨距时底面回波高h1和h2，在示波屏上作出h1和h2连线。则H1和H2连线位于h1和h2连线上方，这是由于工件外表粗糙耦合差惹起的结果，则此两线高度差即为外表耦补偿差dB值。 当试块厚度小于工件时，h1位于H1和H2中间，当试块厚度大于工件时，H1位于h1和h2中间。
6.4 纵波直探头检测技术
6.4.1 仪器调整
1. 扫描线比例 以工件厚度声程为基准调理，普通将工件二次底波调在10格，一次底波调在第5格。 也可按扫描线1：n的比例调理。
2. 检测灵活度调整
1. 试块法 依据工件探伤灵活度请求。 将探头对准规范试块上人工缺陷探测使波高到达某基准波高(如50%高)，再依据工件厚度、请求、调理衰减器到达请求的灵活度，
这办法要留意下到几点：
① 试块和工件材质不同，衰减不同的补偿。
② 试块和工件外表粗糙度不同的补偿。
③ 试块反射体声程和工件检测灵活度请求声程不同惹起补偿(扩散、材质)。
④ 试块反射体和工件检测灵活度请求的反射体品种不同惹起补偿。
2. 工件底波法调整灵活度 请求
① 工件底面和探测面平行。
② 工件底面和探测面外形相同，且规则。 △dB=20lg22FplT
③ 工件底面和探测面外形不同。 如带中心孔的轴或筒体表面面或内外表探测。 图4-3BA图4-4A △dB =20lg22FplT+10lgRr B △dB =20lg22FplT-10lgRr
特性：①便当、不用试块 ②不思索外表补偿 ③不思索材质衰减(底面缺陷和底波声程相同) 办法：只需求出底波高与请求的检测灵活度反射法之间回波高度差。
3. 传输损失测定 ① 试块与工件厚度相同时 试块上第一次回波B1调到基准波高时衰减器读数dB值V1 工件上第一次回波B1′„„ 读数dB值V2 则传输修正值△dB=V1—V2(Db) ② 试块与工件厚度不相同时 按上述试块与工件同厚度测得的△dB值，再按下式修正 V3(dB)=△dB+20lg试工XX 式中：X工—工件声程(mm)X试—试块声程(mm)
4. 工件材质衰减系数测定 在工件完好区选三处检测面与工件底面平行的代表性部位，调理底波Bn和Bm的高度，取m=2n， 则衰减系数α为： α=(Bn-Bm-20lgmn)/2X(m-n) 当工件厚度X≥2N(N为探头近场长度)时，取n=1，m=2。 6.4.2 扫查 扫查应思索： ① 扫查到整个探伤面； ② 声束扫查到整个工件检测范围内全体积； ③ 探头挪动间距相邻有一定范围掩盖堆叠区； ④ 扫查速度满足JB/T4730规范请求 ⑤ 有效声束范围。
6.4.3 缺陷到评定
1. 缺陷位置肯定 ① 缺陷平面位置 找到缺陷最大反射波，缺陷位于探头主声束上，即在探头正下方工件内。 ② 埋藏深度 依据缺陷波声程及扫描线比例计算得出。
2. 缺陷尺寸的评定 (1)回波高度法 1)缺陷回波高度法 依据缺陷回波高度比检测灵活度下基准波高比拟，肯定缺陷大小。 2)底波高度法 在远场(X>3N)，当缺陷比声束截面小时，缺陷波高与面积成正比(此时可用当量法定缺陷大小)；当小缺陷数量很多，或缺陷面积逐步增加，则缺陷越大，所遮挡的声束愈多，形成缺陷处工件底波降落越大，此时可用缺陷波与底波相对波高来评价缺陷的大小。 1. FBF：BF——为缺陷处底波高度，F——缺陷波高 2. GBF：BG——无缺陷处底波高度
3. FGBB 此办法在钢板、锻件探伤中常应用。 (2) 缺陷当量评定法 1) 当量法 适用于小于声场的缺陷的当量测定。 a 、当量试块比拟法 办法：将人工缺陷(试块上规范反射体)与工件中自然缺陷回波比拟，定出的缺陷当量。 请求：① 加工一系列不同声程，不同外形(平底孔或横孔)，不同尺寸(直径不同)试块，将自然缺陷声程与试块上声程相近的反射体比拟。 ②试块与工件材质相近或相同，光面光亮度，工件外形相同或分歧。 ③ 探测条件分歧，仪器、探头、灵活度分歧。
优点：直观，测得当量值较明白。 缺陷：要做大量试块，本钱高。 对X>3N时做试块不易，故仅在X≤3N时应用。 b、当量计算办法 △当量：不同类型和不同大小的工件中的任何缺陷反射回波高与同声程的某规范(规则)反射体的反射回波高相同时，则该规范(规则)反射体的类型和尺寸即为该缺陷的当量。 △由于实践缺陷的几何外形，外表情况、方向，缺陷性质各不相同，其声吸 收、声散射比规范规则几何开头反射体复杂的多。 普通实践缺陷总比所定的当量值大3~5倍，或更多。
当量计算办法： 应用规则外形反射体回波声压(第二章中引见的几种)与缺陷回波声压(缺 陷波高dB值)停止比拟得到缺陷当量。 根本公式：(各规范反射体回波声压) 大平底：21·PPB= 平底孔：Xpplp4·2F=F 长横孔：XPP221·ff= 短横孔：lfffDXLPP2·=短 Lf——短横孔长，Df——短横孔直径。 球孔： XdPPd4·= 园柱曲面：PC=RrP21· 凸面 r内半径 PC=rRP21· 凹面 R外半径。 思索材质衰减应均乘上：e-68.82Xa 式中：P=2P0Sinúúûùêêëé÷÷øöççèæ-+XXD224lp 在X>3N时 P=XDPOlp42´ 详细计算： 用公式计算：应依据缺陷波高与所定探伤灵活度比拟或和底波高比拟，再与探伤灵活度比拟。
计算时应思索： ① 材质衰减。 如题中不思索，就不论。 如题中通知衰减，要弄清是双程还是单程的。 ② 能否要不同孔型之间互相换算。 如灵活度为平底孔，题中请求求出长横孔当量，这要互换。 X≥3N近似精确。 ③ 用AVG图计算，可直接查得缺陷相对大小G，再乘探头晶片尺寸DS则可得缺陷尺Df。 ④ 用适用当量曲线可在曲线上直接查得缺陷当量直径。 (3) 缺陷延伸长度的测定： 适用于缺陷尺寸大于声束截面时的缺陷。 指示长度：依据缺陷波高，用探头挪动间隔的办法。按规则办法测得的缺陷长称指示长度。 特性：由于工件中实践缺陷取向、性质、外表状态均影响缺陷回波高度。故指示长度普通小于或等于实践长度(此时所用dB值即缺陷波最高波降落dB值≤6dB时)，当dB>6dB时，普通将缺陷测大，即指示长度大于实践长度。
1) 相对灵活度测办法 相对灵活度法是以缺陷最高回波为基准，使探头沿缺陷长度方向两端挪动，使缺陷波降落一定的dB值。常用6dB(半波)、12dB(41波高)、20dB(全波消逝)。 ① 6dB法(半波) 适用于： 缺陷只要一个高点 缺陷根本垂直声束 缺陷沿探头挪动方向根本平均 缺陷长度大于声束截面 ② 端点6dB法：普通将缺陷测大 缺陷有多个高点时，用端部6dB法即便端部波高低降6dB。 指所用波束截面 这里指6dB波束截面 关键：肯定端部缺陷回波峰值(最高值)，找到了缺陷端部峰值后，和6dB法同样操作。
2) 绝对灵活度法 探伤仪在规则灵活度条件下沿缺陷方向挪动(不论缺陷最高在何值)。使缺陷波降落至规则的位置如评定线，如GB11345和JB/T4730中Ⅰ区缺陷规则降到测长线即为绝对灵活度法。 特性：① 测长是与缺陷最高波几无关。 ② 缺陷长度(指示长度)与缺陷波高和所规则的测长值位置有关，如缺陷波高只比规则测长灵活度高3dB，即为3dB测长，普通将缺陷测短。 如缺陷波高比规则测长灵活度高20dB，即为20dB测长，普通将缺陷测大。
3) 端点峰值法：普通将缺陷测少。 在探头挪动过程中发现缺陷有多个高点，则将缺陷两端点最大波高处探头位置的间隔作为端点峰值法指示长度。 关键：寻觅端点峰值位置。 △ 以上测长法适用：长条形缺陷 ① 关于缺陷回波包络线只要一个极大值的缺陷，可用最大波高衰减法，常用6dB法。 ② 对缺陷回波包络线有多个极大值缺陷，可用端点6dB法或端点峰值法。 ③ 对条形气孔、未焊缝等宜用6dB法。 对裂纹、未熔合、条形夹渣等宜用10~12dB法。 对小于10mm缺陷宜用3dB法。(规范规则指示长度小于10mm，以5mm计)。 ④ 对中间粗、两端细或细长缺陷(裂纹、未熔合)用端点法可取得较好的结果。 ⑤ 用20dB法时应思索声场修正。(即测得挪动长度应减去声场直径才为缺陷指示长度)
6.4.4 非缺陷回波的判别
1、迟到波 条件：探头在细长工件(板或棒)一端纵波探测，扩散声束纵波射到侧壁产生变型横波，再变成给纵波经底面反回探头引导成迟到波。
2、61°反射： 特定反射。当纵波入射到钢/空气界面。 α+β=90° α——纵波入射角 β——横波反射角。 由SLCCbasinsin= 及°======6182.132305900cossinsinsinaababa得SLCCtg 即入射角α=61°时，呈现β=29°的很强的横波反射。
3、三角反射回波 直探头在实心园柱体探测得的迟到反射。 B1——L底波———————————————— 声程d H1——L等边三角形反射波——————————声程1.3d H2——L-S-L反射波————————————— 声程1.67d。 探测此类工件如工件中无缺陷，则呈现三角形反射，如无此三角形波，则此工件中存在缺陷。
4、探头杂波
5、工件轮廓波——各种外形工件轮廓波不相同要详细剖析。
6、耦合剂反射——外表涉及大K值探头探伤时呈现。
7、幻象波 反复频率太高时产生，可降低反复频率。
8、草状回波(林状回波) 工件晶粒粗大惹起，可降低频率。
9、其它变型波 依据详细工件状况及横波探伤时特定条件，要详细剖析。
10. 侧壁干预波 纵波探头靠近侧壁，经侧反射的纵波和变型横波与直接传播的纵波相互干预，形成越靠近侧壁，回波反而降落，探头分开一定位置回波反而上升。 防止侧壁干扰条件： 侧壁反射波声程与直接传播声程差大于4λ。
1. 轴线小缺陷无侧壁干扰条件： lad2min> 对钢fad5.3min>
2. 底面无干扰： lad2min> 对钢fad5min> △试块宽最小要满足上述条件。 如何鉴别缺陷回波和非缺陷回波? 在超声波探伤过程中可能会呈现各种各样的非缺陷回波，干扰对缺陷波的判别，探伤人员应留意用超声波反射、折射和波型转换理论，并计算相应回波的声程来剖析判别示波屏上可能呈现的各种非缺陷回波，从而到达正确探伤的目的，此外还可采用改换探头来鉴别探头杂波，用手指沾油触摸法来鉴别轮廊界面回波度。
4. 传输修正测定和补偿
(一) 惹起损失缘由 外表耦合差：试块与工件，外表粗糙度不同； 材质衰减差：试块与工件，材质不同惹起材质衰减不同； 底面反射差：试块与工件，底面不同情况。
(二) 测试办法 1. 薄板焊缝损失差： 一收一发两探头在工件上相距2P时，测得回波高为H1(详细可将波调至基准高如40%，记衰减器读数NdB)，再在试块上一收一发探头相距仍为2P时，测得回波高为HZ(详细将波调至基准高如40%，记下衰减器读数N ′)。用衰减测出H1-H2=△dB值=(N-N′)dB。 如△dB即为： 外表耦合损失差 底面反射损失差 材质衰减损失差
2. 中厚板焊缝声能损失差测定
① 试块与工件材质、厚度相同。 上外表耦合损失差：试块A面与工件光亮度相同，B面与CSK-ⅢA光亮度相同。用衰减器测出B1-B2=△1dB值。 下外表反射声能损失差：用衰减测出H1-H2=△2dB值。 总的声能损失△dB=△1dB+△2dB。(★这里因材质相同故无材质衰减损失差)
② 试块与工件材质、厚度不同 1) 材质衰减系数测定：
试块：厚T=40mm，材质、外表粗糙度与工件相同或相近。 仪器按深度1:1调，两只相同型号斜探头一收一发，测出相距1P和2P时的波幅H1(dB)和H2(dB)。 则衰减系数baCOSHH4021D--= 1112cos40cos80lg20lg20lblb++==DSS (S1和S2为横波声程；1l为斜探头内等效声程) balbbalbtgtgtgtg*cos40*cos80lg2000++=(如疏忽1l，则此式约等于：) 2lg20cos40cos80lg2062lg20====bbdB (这里mmtgtg1000==ball。对K2值探头β=63.4°，89cos40=b，178cos80=b，故疏忽1l=10mm。) 2) 外表耦合与底面反射损失差测试。 一发一收两斜探头置于CSK-ⅢA(T=30mm)或CSK-ⅡA(T=T1)在相距1P时测出回波高H1(dB)，再将探头移至工件上，相距1P时同样测出回波高H2(dB)。 则外表耦合与底面反射损失差△1为： 外表与底面反射损失：△1(dB)=(H1-H2-△2-△3)dB 扩散(声程差惹起)：122lg20TT=D (T1——试块厚；T2——工件厚) 材质衰减惹起：△3=α2X2-α1X1 当试块α1≤0.01dB/mm时，△3=α2X2=α2bcosT (单探头探伤时α2为来回双程，故bcos2TX=，不为bcos2T。)
6.5.2 扫查 按JB/T4730规范请求作前后、左右、环绕和转动扫查。
6.5.3 缺陷的评定
1. 横波平面工件的缺陷定位：
(1)声程比例调理 定出程度间隔Lf=nTfSinβ和深度df=nTfCOSβ，二次波df=2T-nTfCOSβ。
(2)按程度比例调理 ④只能检测厚工件中垂直于外表的大缺陷，(如窄间隙厚焊缝电渣焊缝中未焊透)。 ⑤发和收两探头挪动方向相反。 ⑥当两个探头靠在一同时，可测缺陷下端点最下部位置，该位置离工件下外表间隔h’为：h’=Kb2称死区范围，b为两探头靠近时入射点之间间隔。此式为近似式，即以为'2hbtg=b时得出。K=1时完整正确。 即当缺陷下端离下外表间隔小于h’时测不到。
4)相对灵活度6dB法 先用一次波找到缺陷最高波，再前后挪动探头，肯定探头在探测面上的位置A和B，再依据位置A、B的声程X1、X2和探头K值，肯定缺陷高度：h。 h= X2COSβ2 -X1COSβ1 这里关键是如何肯定X1、X2和β1和β2可用试块人工缺陷测定得到。也可经过用计算法得到。 5)端点衍射法 应用缺陷端点衍射波回波时间差测缺陷高度 该法特性：① 两探头在裂纹两侧相对挪动，以裂纹为中心线。 ② 一定要找到裂纹端部最高回波。 ③ 适用于启齿裂纹，且深度≥3mm。
4. 非缺陷回波测定 (1)工件轮廓回波 (2)端角反射波 (3)探头杂波 (5)外表波 (6)草状回波 (7)焊缝中变型波 (8)“山”形波 6.6 影响缺陷定位、定量的主要要素
6.6.1 影响缺陷定位的主要要素： 1) 仪器的影响：程度线性、程度刻度精度。 2) 探头：主声束倾向，探头波束双峰，斜探头斜楔磨损使K值变化，探头晶 片发射、接纳声波指向性。 3) 工件影响 i. 外表粗糙：外表凹凸不平惹起进入工件声束分叉。 ii. 工件材质：材质晶粒惹起林状反射，即资料噪声，试块与工件材质差 异，惹起声速变化，试块与工件应力差别，惹起声速变化使K值变。压力应力声速增加，拉应力声速减小每1kg/mm2惹起0.01%。 iii. 工件外表外形 曲面工件探测时探头平面时为点或线接触探头磨成曲面，使入射点改动， 从而惹起K值变化。 iv. 工件边境：靠工件边境探测时，由于侧壁干扰，使主声束倾向，改动 K值。 v. 工件温度： 工件温度升高K值增大。 工件温度降落K值变小。 vi. 工件中缺陷：缺陷反射指向性惹起不在主声束入射缺陷时呈现高反射， 惹起误判。 4) 操作人员影响 i. 调仪器扫描线比例不准。 ii. 测探头入射值，K值不准。 iii. 定位办法不当：曲面工件未修正等。
6.6.2 影响缺陷定量的要素 1. 仪器、探头性能影响 频率偏向(使调灵活度惹起偏向也影响定量垂直性偏向，衰减器精度误差)。 探头方式，晶片尺寸(影响N大小) 探头K偏向(往复透过率与入射角有关)。 2. 耦合偏向及材质衰减丈量偏向，传输损失等。 3. 工件几何外形和尺寸(曲率变化要补偿) 4. 缺陷的影响 缺陷的外形，方位与入射波夹角等，指向性(回波指向性)，外表粗糙度，性质，位置(在近场或远场等)等。 6.7 检测记载和报告 6.7.1 检测记载 应满足工艺卡、规范和本单位技术文件请求，还应满足签发检测报告请求。 6.7.2 检测报告 应满足规范、法规和技术文件请求5操作便当。
超声波检测办法―脉冲反射法的优缺陷
2缺陷定位精度较高。由于探测面至缺陷的声程间隔可用缺陷波在荧光屏时基轴上的位置表 示，<2缺陷定位精度较高。由于探测面至缺陷的声程间隔可用缺陷波在荧光屏时基轴上的位置表示。据此可对缺陷停止定位。通常仪器的程度线性误差小于 2%因而该类仪器定位精度较高，对不同声程上相邻缺陷的分辨力也较高。
1存在一定盲区，<1存在一定盲区。对近外表缺陷和薄壁工件不适用
1灵活度高。当反射声压为起始声压的1%时，<1灵活度高。当反射声压为起始声压的1%时。即能检测出，可发现较小的缺陷。
3适用范围广。改动耦台、探头相被型可完成不同办法的检测
1.优 点
4能肯定缺陷的当量大小。
3因声波往复传播，<3因声波往复传播。对超声波衰减太大的资料不适用。
2与缺陷取向有关，<2与缺陷取向有关。容易漏检，如图2.54所示。
2.缺 点
超 声波探伤关于平面状缺陷，<超声波探伤关于平面状缺陷。不论其厚度如何薄，只需超声波是垂直地射向它就能够取得很高的缺陷回波。因而，对钢板的层 叠、分层和裂纹的探伤分辨力很高，而对单个气孔的探伤分辨力则很低。此外，缺陷回波有一定的指向性，当缺陷取向不利时，接纳探头就
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