Hiden Analytical推出二次离子质谱仪成功应用于锂电池研究
据外媒报道，先进科学仪器供应商Hiden Analytical宣布，其四极聚焦离子束二次离子质谱（FIB-SIMS）成功应用于锂离子电池研究。这项突破性技术具有无与伦比的灵敏度和分辨率，适合低质量锂检测，将大幅推进锂离子电池研究的进程。
现在，人们对电动汽车和便携式电子设备的需求日益增长，更加需要可靠、有效的储能系统。锂离子电池被视为有前景的解决方案，但只有深入了解电池内部的复杂过程，才能进一步提高性能和安全性。Hiden Analytical的FIB-SIMS为这一挑战提供了强大的解决方案，使研究人员能够获得关于电池内部锂分布和浓度的重要信息。
该研究展示了Hiden Analytical的FIB-SIMS在高灵敏度和高精度检测锂等低质量元素方面的能力。
Hiden Analytical的FIB-SIMS可与聚焦离子束扫描电子显微镜（FIB-SEM）无缝集成，为研究人员提供诸多优势，如相关成像、原位样品制备和三维元素分析。这样的组合有助于全面了解锂离子电池的微观结构，从而开发更高效、更安全的储能系统。
该公司技术营销经理Dr. Dane Walker表示：“很高兴看到FIB-SIMS技术在锂离子电池研究领域得到应用。这项突破表明，Hiden Analytical致力于推进科学研究，为不断发展的储能市场提供尖端解决方案。”
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