瑞士CSM超纳米压痕仪介绍
UNHT型超纳米压痕测试仪是市场上现有的zui精准的纳米与超纳米尺度动态压痕测试仪器。在小尺度蠕变、软材料、生物材料、超薄膜、弛豫、弹性体等应用领域性能尤为突出。
正弦加载压入模式（Sinus 态机械分析模式）
正线加载入模式可以通过其动态的测量过程给出材料更为完整的力学信息，例如材料的粘弹性。这种加载模式可以给出材料硬度、弹性模量、存储模量和损失模量等信息随压入深度的连续分布曲线。
技术参数：
zui小有效加载载荷： ?25uN
zui大有效加载载荷 ?100mN
有效载荷分辨率 ?1nN
zui小接触力 ?100nN
zui大压痕深度 ?100um
位移分辨率 ?0.0003nm
位移信号噪声水平 ?0.03nm
位移信号稳定水平（或热漂移） 0.008nm/sec
加载模式 高精度压电驱动加载
位移测量 电容传感器
符合ISO 14577-1，2，3国际标准
加载模式：
线性加载，连续加载卸载，二次项加载，恒应变速率加载，位移控制加载
正弦加载（DMA模式）：
能够通过一次压痕获得接触刚度、硬度和弹性模量随压痕深度的连续函数分布；
能够测量材料的储存模量、损耗模量和阻尼
能够在压入过程中通过反馈系统保持恒定的简谐位移振幅。
简谐力频率范围: 1Hz to 200Hz
XY 工作台： 120 x 20 mm ，245 x 120 mm (OPX+)
XY 工作台位移分辨率 ：0.25 μm ，0.10 μm (选件)
光学显微镜放大倍率： 200x, 4000x
光学显微镜摄像镜头： 彩色 768 x 582*
主要特点：
主动参比测量设计实时扣除热漂移等伪位移信号
超低热漂移
深度与载荷信号的电容传感器测量
双压电加载装置（更加可靠的设计）
双载荷传感器（闭环力反馈系统）
符合国际标准ISO 和 ASTM
集成自动光学测量系统
带有反馈系统的载荷加载装置
仪器操作系统软件包
可扩展选项
真空或湿度环境控制
原子力显微镜
高分辨率工作台 (精度0.25微米)
高分辨率CCD光学显微镜
环境保护罩
