铜、铬、镍、锰矿，采、选矿石元素含量检测
一、 应用概述
矿石是矿产冶炼的原材料，其元素含量的测定对于选矿以及冶炼加工至关重要。各类矿石中主量元素以及微量元素的测定通常采用化学滴定、AA、ICP、ICP-MS等多种分析方法，操作过程繁琐，耗时耗力。单波长激发-能量色散X射线荧光光谱仪与快速基本参数法正在改变这一现状，针对各类矿石样品，同步分析其主量元素以及杂质元素含量，检测速度快，减少人力物力消耗，为矿产开发与冶炼企业带来新的元素分析方法。
二、 方法原理
1) 单色化聚焦激发技术原理
单波长X射线荧光光谱仪（HS XRF）采用全聚焦型双曲面弯晶技术，全聚焦型双曲面弯晶将X射线光管出射谱中靶材特征射线单色化衍射并聚焦到样品一点，大幅降低X射线管出射谱中连续散射线背景对样品元素谱的干扰，提升元素检测信噪比，相对传统XRF检出限降低1-2个数量级，单波长X射线荧光光谱仪从而实现对微量和痕量元素的检测分析。
2) 快速基本参数法
快速基本参数法(Fast FP2.0)通过对X射线荧光物理学明确的物理现象建立基本参数库和系列数学模型，经过大量计算直接得到样品中各元素的含量，解决了XRF基体效应、元素间吸收增强效应、谱线重叠干扰、探测器各种效应等对定量分析的复杂性和不确定性，实现欠缺标准样品情况下的样品元素定量分析。快速基本参数法（Fast FP）提升XRF样品适应性与定量精度。
三、 性能数据
1) 矿石种类与元素类型
本方案可以测试铬矿，镍矿，铜矿和锰矿四种类型矿石，关注元素如下所示：
针对以上样品，快速基本参数法(Fast FP)可以依赖少量(2-3个)定值或标准样品快速开发相关分析方法，得到高精度的定量结果。
2) 准确度与精密度
3) 结论
高灵敏度X射线荧光光谱仪与快速基本参数法针对Cu, Ni, Mn, Cr四种矿石样品，可以快速建立分析方法，快速基本参数法通过对基体效应，元素吸收增强效应的精确计算，消除各种干扰带来的分析误差，可以大幅降低背景干扰，降低检出限；计算值与真值之间有极佳的线性关系，主元素不需要校正或只需极少标样进行校正，即可达到快速精确定量的目的。
