X射线荧光光谱仪理论影响系数法介绍
对多数类型的样品，总有一些XRF无法探测到的元素（H-F）存在，往往这些超轻元素在样品中占有一定的浓度，是样品中基体组成部分，而其它元素的峰强度与基体组成直接相关，X射线荧光分析数据处理技术与基体校正数学模型的研究是该领域的重点，这一领域研究主要围绕着基本参数法和理论影响系数法展开。
理论影响系数法也称为理论α系数法，其在利用基本参数方程推导基础上，选取特定浓度范围的标准样品或定值样品，建立二元或三元体系，应用一定的数学模型建立元素间的理论校正系数，具备了标样需求少、适用范围宽、准确度提升等优点。已经建立的理论影响系数在随着样品组成的变化而改变，需要实时适应这种变化的计算方法或计算机程序。
在某些具备一定条件的基础上建立的理论影响系数法模型，毫无疑问提升了定量精度和适应范围。其与基本参数法的区别有哪些呢？有研究表明理论影响系数法均可以由基本参数模型推导得来，理论影响系数法关注的是特定样品类型特定元素范围的推导和适应性，其在固定的XRF硬件体系下，借助少量标准样品建立理论影响系数模型，并非自动适应和实时计算，也就是其不是通过探测器采集谱与计算谱拟合程序自动调整理论影响系数。从而，理论影响系数法距离XRF无标定量相差甚远。
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