在AB SCIEX的SelexION™ 技术之前，市场上已有离子淌度质谱技术。一种是把离子淌度装置放在Q2碰撞池后，这时PR、NL、MRM等很多质谱扫描的模式就不能用了，并且这类仪器只能用离子淌度分析，仅限于分离某些同分异构体。另一种是，淌度池放在离子源后，是一种同心环，这种方法做MRM的速度不高，拆装也不是很方便，灵敏度也会受到影响。并且，这两种淌度技术的均无法分析质荷比小于500的离子。

　　AB SCIEX的SelexION™装置，置于离子源之后，Q0之前，能够在大气压状态下使用。产生的离子通过淌度分离后，还可以在后面的任意一级质谱进行原来的各种质谱采集和扫描方式。特有的化学修饰剂，最大地提高了分辨率，对小分子(m/Z=100-500)分离更有效。特别是，DMS设备可以手工拆卸，无需任何工具和破坏真空，2分钟可完成安装与拆卸。

　　与之前淌度技术不同的是，SelexION™技术采用平板状设计，通过施加分离电压，根据离子在高电场和低电场迁移的差异分离离子，通过施加补偿电压(COV)，用于校正目标离子的运动轨迹，确保通过DMS到达质量分析器。