BMS静电放电ESD测试基本知识（二）
组件充电模型（Charged－Device Model，CDM）：是指IC内部首先积累了静电，但未损伤，然后此IC接触地面时，通过IC的PIN脚，产生了放电。（图片来源于网络）
除此之外，还有其他的几个模型，就不展开了，因为理解的也不深入。其实我感觉在IEC 61000－4－2和ISO 10605里面弱化了放电模型的概念，更加务实，直接推荐单板系统层级测试ESD的RC阻容网络，与上面模型的阻容参数也是不相同的；而放电模型的概念更多在工业或军用的标准中，针对对象为元件，此处当做了解吧。ESD试验方案下图列出了ESD的测试方案，首先分为直接放电与间接放电两个大方向，直接放电又包括了空气放电与接触放电两种测试方法，而间接放电只做接触放电。
直接放电：直接对DUT实施放电的试验方法。间接放电：对DUT附近的耦合板实施放电，一般用来模拟人体对DUT附近的物体进行放电。接触放电：在发生放电之前，将ESD发生器的放电电极尖端保持与DUT接触，通过触发发生器内部的放电开关对DUT进行放电；接触放电的金属电极顶端为尖状。
空气放电：将发生器的电极充电到试验电压，然后以规定的速度接近DUT，当发生器的放电尖端足够接近DUT时，放电尖端和试验点之间的电介质材料被击穿，通过电弧进行放电；空气放电的金属电极顶端为圆形。
DUT的状态DUT存在带电与不带电两种状态；带电状态模拟DUT在工作时出现的ESD场景；而不带电状态模拟DUT在生产过程或维修过程中出现的ESD场景。一般的RC阻容网络选取规则标准中规定，使用2KΩ电阻，模拟人体直接通过皮肤放电；而使用330Ω电阻，模拟人体通过金属部分（例如钥匙）放电。DUT安装在车辆上容易接触的位置时，电容选取330pF，否则选取150pF。最后，把相关测试总结成为下面的一张图，需要注意的是，实际上根据参考标准的不同，是有一些出入的。
总结：这几天更新的比较慢，原因是本来在写另外一个题材，写到一半感觉理解不透彻，所以就先搁置了，等成熟后再说，又重新开了新方向；以上所有，仅供参考。
