高分子领域常用的表征方法之电子显微镜（SEM）
电子显微镜是一种电子光学微观分析仪器，是将聚焦到很细的电子束打到试样上待测定的一个微小区域，产生不同的信息，加以收集、整理和分析，得出材料的微观形貌、结构和化学成分等有用的信息，如透射电镜（TEM）、扫描电镜（SEM）和电子探针分析（EPA）等。电子显微镜在分析研究高聚物时有以下应用：
a.电镜可观察非晶态高聚物微观形态，其存在大小为3～10nm的“球粒结构”和局部有序区域；
b.用电镜可以观察到聚合物的各种结晶形态，如折叠链晶片、串晶、伸直链晶等
c.研究纤维和织物的织构及其缺陷特征，同时还用于研究纤维的断裂特征，从而进一步弄清楚各种纤维的断裂机理等；
d.电镜广泛用于各种聚合物及其共混物的结构，以及它们断口形态特征与其力学行为关系等；
e.此外，电镜还广泛用于复合材料的各种故障结构分析，以及研究高聚物材料作为涂层、胶黏剂、薄膜时，形成高聚物膜的结构及其黏结状态。
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