X射线光谱技术(XRF)
X射线光谱技术因其是一种环保型、非破坏性、分析精度高的分析技术[33], 特别是在贵金属产品、饰品无损检测方面有其独特的优势。用XRFA互标法无损检测黄金饰品,对金饰品[w(Au)>96%]的测定绝对误差<0.1%。在微量分析方面, 人们长期致力于研究便携式X 射线光谱仪的研究并用于微量贵金属元素的测定。另外,载体富集 XRF测定了地质物料中贵金属元素也被运用。
波长色散X-射线荧光光谱法可测定纯金中的金[34],用该方法测定了质量分数为98.00 %～99.95%的金,与火试金法、AAS、ICP-AES 的结果对照,其偏差绝对值均小于0.10 %[35] 。X-射线荧光光谱法无损检测制备金标准也有报道[36] ,还报道了黄金饰品质量的 X-射线荧光光谱无损检测[37]。表面镀铑的白色K 金首饰用X-射线荧光能谱法进行测定,饰品中成分含量与铑层的厚度有关[38]。
全反射X射线荧光（TXRF）分析技术是近年来才发展起来的多元素同时分析技术。TXRF利用全反射技术，使样品荧光的杂散本底比X荧光能量色散谱仪（EXRF）本底降低约四个量级，从而大大提高了能量分辨率和灵敏度，避免了XRF测量中通常遇到的本底增强或减弱效应；同时TXRF技术又继承了EXRF方法的优越性，成为一种不可替代的全新的元素分析方法。该技术被誉为在分析领域是最具有竞争力的分析手段、在原子谱仪领域内处于领先地位。
在X荧光谱仪范围内，与波长色散谱仪（WXRF）方法比较，由于TXRF分析技术用样量很少，也不需要制作样品的烦琐过程，又没有本底增强或减弱效应，不需要每次对不同的基体做不同的基体校准曲线。另外由于使用内标法，对环境温度等要求很低。因而在简便性、经济性、用样量少等方面，都比WXRF 方法有明显的优越性。
TXRF 技术可以对从氧到铀的所有元素进行分析，一次可以对近30种元素进行同时分析，这是原子吸收谱仪中的ETAAS和FAAS方法难以做到的。与质谱仪中的ICP-MS和GDMS以及中子活化分析（NAA）等方法相比较，TXRF分析方法在快速、简便、经济、多元素同时分析、用样量少、检出限低、定量性好等方面有综合优势。其最低绝对检出限为pg级（10－12g）。
