x射线荧光光谱的微区分析技术介绍
铜矿物在自然界存在形式多样，有原生带次生富集带和氧化带等，共生矿物和伴生矿物众多，各类矿物均存在类质同象或者镜下光学特征相似的现象，传统的岩矿鉴定方法利用偏光、反光显微镜或实体显微镜等设备难以鉴别，对于此类矿物的鉴别需要借助化学分析方法或微区分析技术。
微区分析技术（电子探针、同步辐射、全反射微区分析）已在地质、环境、考古和材料科学等领域获得了应用。在半导体材料方面，微探针和同步辐射技术为掺杂元素的行为研究提供了新的方法：在考古方面应用微区能量色散x射线荧光元索成像法测定陶瓷中重金属元素；在地质学方面，应用x射线荧光光谱（XRF）微区分析技术分析陨石；应用微束X射线荧光微区测定了铀矿石；应用微束微区X荧光探针分析仪检测心矿石内的矿物颗粒。
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