了解XRF中的常用“密语”，为检测加速
查看X射线荧光（XRF）相关的内容时，您可能会留意到文章里面经常会出现很多的英文略缩术语。您可以利用这份快速指南，来了解这些您经常会在网站上看到或者在工作中听到的略缩术语。
XRF
XRF = X射线荧光。一种快速的无损检测方法。用来测量材料的化学元素组成。类似的略缩术语有:
EDXRF = 能量色散型X射线荧光光谱法。快速、经济的X射线荧光技术，普遍被运用在手持式的X射线荧光分析仪中。
WDXRF = 波长色散型X射线荧光光谱法。实验室用的X射线荧光技术，相比较于利用能量色散型X射线荧光光谱法的分析仪，其价格更加昂贵。
HHXRF = 手持式X射线荧光分析仪
pXRF = 便携式X射线荧光分析仪
探测器
手持式X射线荧光分析仪一般使用两种类型的探测器：
PIN = 硅PIN二极管探测器。相较SDD探测器，是一种较为早期、便宜、探测效率慢的一种探测器。
SDD =硅漂移探测器。一种新型探测器，相较PIN探测器，计数率为其的10倍。
元素
LE =轻元素。轻元素被激发时发射的X射线能量很低，所以难以被我们的探测器接收到。
在判定LE的含义时需要结合上下文的内容。因为我们也经常将手持式XRF分析仪能够测量到的一些轻元素也称作为LE，包括：
镁 （Mg）
铝 （Al）
硅 （Si）
磷 （P）
硫 （S）
氯 （Cl）
钾 （K）
钙 （Ca）
上述轻元素只有利用SDD探测器才能检测。
在很多情况下， LE 也代表在化学元素周期表中原子序数低的元素， 这些元素我们无法利用手持式XRF分析仪进行检测，比如钠（Na）， 碳 （C）， 氢 （H），以及氧 （O）。
氢（H）到钠（Na）: 这些LE （蓝色区域内的） 我们无法使用手持式XRF分析仪探测到。镁 （Mg） 到钪 （Sc）: 这些元素 （黄色区域内） 无法用PIN探测器检测—需要使用搭载了SDD探测器的手持式XRF分析仪。
算法
FP =基本参数法。一种常用于X射线荧光技术的计算/校准的算法。它根据原子的基本物理特性，将不同的元素之间的干扰效应也纳入了算法中。当分析一个具有高密度的样本时（比如大多数的金属材料），这会是一个非常有效的方法。
CN =康普顿算法。一种相对简单的计算/校准的算法，适用于低密度样本的分析。
可靠性鉴定
PMI = 材料可靠性鉴定。用户在需要判定一些设备中的重要组成部件是否由某种特定的合金组成的时候需要对这些设备进行PMI判定， 比如：水管、阀门、焊接处、以及压力容器。对一些特定的化学元素的含量进行检测和匹配，快速的验证金属牌号。
分析检测
LOD = 检出限。LOD表示最低可以探测到的某种元素的含量。在含量非常低的时候，设备会无法判定该元素的存在、或者给出其含量的数值。
LOQ = 定量限。LOQ大约是LOD的3倍，元素含量在这个限值以上时，给出的检测结果的置信度很高。
