ICP光谱仪分析常见干扰
1、电离干扰的消除和抑制：原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少，因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上，从而抑制或消除分析元素的电离。此外，由于温度愈高，电离度愈大，因此，降低温度也可减少电离干扰。
2、试剂酸度对ICP-AES法的干扰效应主要表现在哪些方面？
溶液的酸度主要影响提升率和雾化效率，在酸性介质中大部分元素的谱线强度均低于水溶液；随着酸度增加，谱线强度显著降低；各种无机酸的影响并不相同，按下列顺序递增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4；谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。所以在ICP测试中，应尽量的避免使用H3PO4 H2SO4作为介质。条件允许的情况下，尽量的用盐酸或硝酸作为介质。
3、ICP-AES法中的光谱干扰主要存在的类型：
①谱线干扰，最常见的是稀土分析，尤其是稀土纯度分析，谱线干扰是相当的严重，对于谱线干扰，我们一般是选择更换谱线，由于全谱ICP光谱仪在选择谱线上的忌口 限性，对于稀土纯度分析，一般用顺序扫描型的仪器比较好。谱带系对分析谱线的干扰，一般也是换谱线。
②连续背景对分析谱线的干扰，最常见的矿物质分析，基体比较复杂，虽然谱线不多，但是连续背景很强，这时候，一般是的仪器都带有扣背景的功能，用这个功能可以消除。
③基体干扰，严格来说，基体干扰是物理干扰而不是光谱干扰。常见比较复杂的样品，部分金属的纯度分析等，基体干把有很多种影响方式，最重要的是影响提升率和雾化效率。消除基体干扰的方法很简单，就是基体匹配法或标准加入法，在样品比较多的的时候，大部分采取基体匹配法。
④抑制干扰，其实是基体干扰的一种，某种基体的存在，可能影响了待测元素的激发，有时候是抑制，但个别时候也会增强待测元素的强度，不管是减弱还是增强都不是我们所需要的，消除这种干扰的方法也是基体匹配或标准加入法。
