阿贝比长仪的功能简介
在天文工作中﹐用于测量底片上谱线间的距离。比长仪的量程200毫米﹐测量精度可达±1.5微米。仪器分三部分﹕精密导轨。置片台﹐是一块可沿导轨移动的钢板﹐它的一侧装著一条透明毫米尺﹐另一侧放待测底片。
两架固定联结的显微镜﹕一架用来对物体﹐称为对准显微镜﹔另一架用来对准毫米尺上的刻线和读数﹐称为读数显微镜。
移动置片台﹐当对准显微镜从对准一条谱线到另一条谱线时﹐读数显微镜对准的毫米尺上的二次读数之差﹐即为谱线间的距离。
根据阿贝提出的原理﹐只要待测对象和毫米尺精确地位于同一高度﹐置片台的滑动误差就不会影响测量精度。
为了消除对准误差﹐可将底片转180°再测量一遍。熟练的测量者用这种仪器测量不对称的谱线﹐精度往往比自动测量仪器还高。用比长仪测量底片上待测谱线和比较谱线的位置﹐根据经验公式就可以计算出待测谱线的波长。
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