X射线荧光光谱技术的原理
所有XRF仪器都拥有两个主要成分，一个是X射线源，一般采用X射线管，另一个则是探头。X射线源会发出初级X射线到样品表面，有时会通过滤光器对X射线束进行调整。在光束击打样品原子时，会产生次级X射线，这些次级X射线会被探头收集并处理。
比较稳定的原子是由原子核及绕核旋转的电子构成，电子按照能量层级或电子壳层排列，不同的能量层级可包含不同数量的电子。
在高能初级X射线与原子发生碰撞时，会打乱原子的平衡状态。
此时，电子会从较低的能量层级射出，形成电子空位，使原子失去稳定。
为了恢复稳定性，较高能量层级的电子就会填补空位。而电子在两个能量层级间移动时释放的多余能量就会以次级X射线的形式发射出来。发射出的X射线的能量会表现出元素的特征。
这也就意味着XRF能够提供有关被测样品的定性信息。
不仅如此，XRF同时也是一项定量技术。
样品原子发射出的X射线经探头收集，并由仪器处理后可形成一个光谱，显示X射线的强度峰值及能量对照。
如我们所知，通过峰值能量可以判定元素的种类。其峰值区域或强度可指示出元素在样品中的含量。
随后，分析仪就可以使用这一信息计算样品的元素构成。
从按下按钮或扳机，到输出分析结果的全部流程最快仅需2秒钟，最多不过几分钟。
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