X射线衍射仪的分类及技术原理分析
X射线衍射技术(X-raydiffraction，XRD)。是利用X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息的研究手段。
X射线衍射仪分为单晶衍射仪和多晶衍射仪两种。
单晶衍射仪的被测对象为单晶体试样，主要用于确定未知晶体材料的晶体结构。基本原理：在一粒单晶体中原子或原子团均是周期排列的。将X射线（如Cu的Kα辐射）射到一粒单晶体上会发生衍射，由对衍射线的分析可以解析出原子在晶体中的排列规律，也即解出晶体的结构。
多晶衍射仪也被称为粉末衍射仪，被测对象通常为粉末、多晶体金属或高聚物等块体材料。基本原理：当一束连续的X射线照射到一个晶体上，会受到晶体上原子的散射，由于每个原子在晶体中是周期性排列，这些散射波之间存在固定的位相关系，他们之间会在空间上产生干涉，结果导致在某些方向相互叠加，某些方向相互抵消，只有在特定的方向上产生散射线加强的衍射斑点。
X射线衍射仪可实现无损的物相定性和定量分析,而且利用衍射峰位,衍射峰强度,衍射峰线形等信息可以进行材料晶体结构的表征,如:点阵常数的精密测定,晶粒尺寸和微观应变计算,宏观残余应力测定,结晶度计算等;X射线衍射分析方法是材料微观结构表征常规和有效的方法之一。
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