x荧光光谱仪的测试步骤介绍
X荧光光谱仪是一种较新型可以对多元素进行快速同时测定的仪器。在X射线激发下，被测元素原子的内层电子发生能级跃迁而发出次级X射线。波长和能量是从不同的角度来观察描述X射线所采用的两个物理量。
x荧光光谱仪在阳光直射的高温，高日照量的情况下也能保持高性能的特点，这得益于仪器设计中充分考虑低功耗及X射线管高温的及时排放，所以它可承受恶劣的工作环境。X荧光光谱仪的测试步骤：
（1）选择分析方法与制样方法。分析方法一般有基本参数法、半基本参数法、经验系数法等，制样方法一般有抛光法、压片法、滤纸片法和熔片法，常用粉末压片法制样，采用基本参数法测试。
（2）将制备好的样片装进样品杯，放入样品交换器中，自动进样至样品室，X射线管发出原级X射线照射样品，激发出待测元素的荧光X射线。
（3）样品辐射出的荧光X射线通过分光晶体，将X射线荧光光谱色散成孤立的单色分析线，由探测器测量各谱线的强度，根据选用的分析方法换算成元素浓度，得到样品中待测元素含量。
（4）生产厂家建议定期清理空气滤网，避免积灰，保持良好的散热效果
（5）定期邀请厂家安排专门的工程师上门进行年检，排除问题隐患
还需要特别注意的一点就是，切勿因好奇心理去触碰检测器铍窗，以免破坏核心部件。
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