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“微观新技术，助力新材料”—上交大特种材料研究所“TESCAN奖学金”颁发仪式！
2019年1月14日，上海交通大学· 特种材料研究所“TESCAN奖学金”颁奖仪式在上海交通大学顺利举行。上海交通大学·特种材料研究所党委书记夏存娟、研究所副教授陈哲，TESCAN中国技术总监焦汇胜博士出席奖学金颁发仪式，为获得2018年度“TESCAN奖学金”的优秀硕士生、博士生颁奖。
上交大特种材料研究所“TESCAN奖学金”颁发仪式
“上海交通大学· 特种材料研究所—TESCAN联合实验室”于2017年正式成立，联合实验室配备有一台TESCAN MAIA3超高分辨场发射扫描电镜及多种原位分析样品台，主要用作原位EBSD分析。
特种材料研究所主要从事新型特种材料的制备及其成形技术研究，近年来在高性能铝基复合材料原位合成过程、组织调控和成形技术的机理、方法和工艺等方面取得了非常多骄人的成绩。
2017年，研究所团队取得惊人成果，研制出了新型纳米陶铝材料（在铝里“生长”出陶瓷），比强度和比刚度超过了钛合金。这是具有完全“自主知识产权”的中国原创新材料，引发了媒体和公众的广泛关注。
目前，该研究所研发的这种新型纳米陶铝合金已突破规模化工程应用的瓶颈，在航天、汽车、先进电子设备领域等得到了充分应用。
上海交通大学 · 特种材料研究所—TESCAN联合实验室
自上海交通大学· 特种材料研究所于2016年安装了TESCAN MAIA3 场发射扫描电镜后，TESCAN CHINA上海应用中心为联合实验室倾力提供了技术和人员支持。
由于研究所研发的陶铝材料中存在TiB2纳米颗粒，使得EBSD测试样品的制备遇到了很大困难。因此，TESCAN应用专家多次利用公司的FIB演示样机免费帮助客户探索样品制备方法，并经常与联合实验室用户一起研究讨论，帮助客户进行样品的切割抛光以及EBSD标定工作，解决了一直困扰客户的难题，最后相关文章也成功发表在了applied science期刊。
相关研究成果发表在applied science期刊
2017年11月份，TESCAN曾将Xe等离子FIB系统的demo机XEIA放置在上交大特种材料研究所联合实验室，并培训客户使用。
得益于TESCAN Xe等离子FIB系统的大面积快速切削加工能力，实验室的研究人员直接用其进行样品的定位加工，使得实验室的整个制样周期大大缩短。
TESCAN作为全球知名的扫描电镜和FIB系统供应商，近年来在中国市场取得了长足的进步，同时TESCAN的产品和技术也对国内的科研起到了积极的影响和推动作用。
为联合实验室优秀硕士博士生颁发“TESCAN奖学金”
希望未来在双方共同的努力下，共建联合实验室将取得更多高水平的研究成果，助力科研腾飞。
更多 TESCAN 技术和应用详情，请访问：www.tescan.com
