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无损检测 | 快速太赫兹时域光谱系统在涂层厚度管理方面的应用
热障涂层常见应用中，需要在高温合金表面涂敷100 微米至几毫米不等的但厚度精确的陶瓷基复合材料（CMC）涂层，因此需要仔细控制涂敷工艺。然而，在实际生产中，CMC的制造和质量控制仍然具有极大的挑战性。这是因为，CMC材料的高孔隙率和低热传导率是其自然的属性也是其应用的基础，但于此同时，也导致传统的无损检测方法如空气耦合超声检测、X射线断层扫描、热成像等无法对其进行表征。
本系统可用于对不同涂层厚度进行检测，包括涂层厚度、层间厚度、涂层材料成分、内部缺陷、层间均匀性、脱层等的太赫兹无损检测。主要特点有：太赫兹波的光子能量很低（比x光低100万倍，比可见光低几千倍），不会损伤被检测样品；能够有效穿透涂层与复合材料，实现对样品涂层厚度和样品内部的检测；太赫兹波脉冲很短（1ps左右），通过脉冲时间采集，能够精确获得涂层厚度变化、涂层材料成分、脱层等厚度信息。快速太赫兹时域光谱系统系统采用飞行时间测量法，图像的纵向分辨率可达十几微米，在涂层厚度测量方面有着广泛的应用。
“工业4.0”和“中国制造2025”给无损检测技术带来了新的发展机遇，为了实现工业装备的智能化、高质量制造和高可靠性应用，需要研究发展专用精量化、标准化、自动化、自主化和智能化的无损检测技术与设备。
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