2019 全国电子显微学学术年会,TESCAN 精彩回顾
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2019年10月15-18日,一年一度的电子显微学盛会“2019全国电子显微学学术年会”在合肥丰大国际大酒店落下了帷幕。本届年会主题为“中国电子显微学快速发展的新时代”,大会为期3天,共开设了1个主会场,10个分会场,吸引了大批来自大专院校、科研院所、企业等电子显微学领域专家学者1300余人参会。
TESCAN公司携最新一代FIB-SEM---AMBER 亮相本次大会,召开了新品发布会,并进行了连续3天的演示和交流会,在会上赚足了眼球,现在让我们一起来回顾一下这些精彩瞬间吧~
新品发布会
发
布
现场DEMO演示和交流会
演示和交流会现场
分会报告和展位
延伸阅读
TESCAN最新一代电镜亮相2019年全国电子显微学学术年会
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