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一文读懂|如何利用XRD进行织构分析？
XRD法制样简单、测量结果较为宏观； EBSD法制样复杂、测量结果较为微观，但EBSD可以给出直观给出晶体取向的分布。
若晶体样品中各晶粒呈现完全的随机取向，强度是均匀分布的： 
若晶体中存在织构，必将引起衍射强度发生起伏变化，这些强度变化就反应了晶粒取向在空间的不均匀分布： 
因此，只要测量出每一a，b角度处的衍射强度，进行极射赤面投影，即可得到极图；根据测量极图进行计算，即可得到反极图、ODF图、织构定量等信息： 
样品表面平整（若表面太粗糙，可以先用机械研磨、后用电解抛光的方法，使试样表面平坦）； 样品面积不小于5×5毫米，最好10×10毫米以上； 反射法要求样品具有一定的厚度保证射线被完全吸收； 样品的晶粒尺寸不能太大，为保持统计性，光斑在样品表面的投影至少包含400个晶粒； 样品的元素组成最好不要有荧光产生； 通常需要一个无织构的粉末样品做散焦修正曲线。
选择原则：不同晶面2θ分的足够开，同时避免荧光X射线的干扰； 反射法：Cr、Fe、Co、Ni、Cu； 透射法：Mo、Ag。
立方晶系至少3个极图； 六方晶系至少5个极图； 样品对称性越低，极图的数量要求越多。
Chi的步长通常选5度，0-75度。
通常，0-360度， 5度/步； 对于高度对称性的样品，可以只测量0-90度。
对于晶粒比较大的样品，可以震荡X、Y轴使得光斑中的有效晶粒数目增加。
点光源 (线光源+准直管） 样品台可倾转（具有Psi或Chi轴） 样品台可旋转（具有Phi轴）
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