创新不止,精益求精——微区半导体参数测试仪全面升级
厚积薄发,彰显卓立匠心
我们汲取了前几代产品的成功经验,对设备的硬件和软件上做了全方面的升级: • 使用了卓立汉光全新一代的影像校正光谱仪,成像质量增加优秀,波长重复性和准确性更高,让半导体参数测试的数据更加可靠; • 光纤共焦系统,光路稳定,满足工业复杂环境需要;
• 针对多晶硅晶化率、应力测试、载流子迁移率测试搭建的全新架构软件,直接给出测试结果。
微区半导体参数测试仪
测试原理
拉曼光谱的优势
载流子浓度测量
主要优点:
1. 利用拉曼光谱法测量载流子浓度具有非接触、速度快等优势。2. 通过共聚焦拉曼光谱可以测量微米尺度局域载流子浓度,可对片内均匀性进行评估。3. 适用的材料体系:氮化镓、碳化硅等第三代半N型半导体材料。实测案例
可测试的载流子浓度范围:1017 ~ 1020 cm-3 , 重复实验的标准偏差<5%
样品 | A1_LO峰位 | LPP声子耦合峰位 | 拟合精度 | 载流子浓度(cm-2) |
1 | 737.79 | 756.22 | 0.9719 | 8.624e+17 |
2 | 736.51 | 792.78 | 0.9828 | 2.148e+18 |
应力测试
应力的存在与应力集中是导致材料和结构最终失效的主要原因。研究材料的应力分布及应力状态下材料的物理性质,可以对缺陷、掺杂和 污染造成的失效机制进行分析。
氮化镓压痕坑附近的应力分析
多晶硅晶化率测试
结晶率指晶态硅与晶界占非晶态、晶态、晶界总和的质量百分比或体积百分比,是评价结晶硅薄膜晶化效果的一项重要指标。晶化率
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