更新时间： 2024-05-07 08:59:46
Q:在一篇博士论文里看到可以通过XRD测织构的数据来分析试样的残余应力和位错密度，如何分析呢？A:XRD测位错密度，可以近似的取半波宽来确定。其实只是个比较的测量方法，也就是说，你可以通过不同材料或者不同处理制度得到的XRD峰值半波宽来比较
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奥林巴斯的X射线衍射仪有助于执法人员顺利完成工作，因为这些衍射仪可以对各种物质进行定性和定量的相分析，可分析的物质包括毒品、爆炸物/危险物，以及需由法医专家和海关人员分析的材料。这款分析仪带有一个用于处理样本的独特系统，因为无需完成复杂的样
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