高角环形暗场像介绍

发布时间:2024-06-18 15:30:09

高角环形暗场像介绍的热门新闻

2013年度北京电子显微学年会大会报告(一)

2013年12月24日, 2013年度北京市电子显微学年会在北京天文馆隆重召开,会上,来自中科院、北京大学、北京工业大学、北京建筑大学、钢铁研究总院等多位专家学者带来了关于电镜在教学科研、纳米材料、生物医药、探伤等方面应用的精彩报告,科扬......
完整阅读>>

高分辨TEM答疑

1.TEM-EDS与XPS测试时采样深度的差别? XPS采样深度为2-5nm,我想知道EDS采样深度大约1um。 1.jpg 2.Z衬度像是利用STEM的高角度暗场探测器成像,即HAADF。能否利用普通ADF得到Z衬度像? 原子分辨率ST......
完整阅读>>

高分辨TEM答疑

1.TEM-EDS与XPS测试时采样深度的差别? XPS采样深度为2-5nm,我想知道EDS采样深度大约1um。 2.Z衬度像是利用STEM的高角度暗场探测器成像,即HAADF。能否利用普通ADF得到Z衬度像? 原子分辨率STEM并不是H......
完整阅读>>

SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少

SEM与TEM带的EDAX的分辨率是多少

电镜“老玩家”袁建忠:专注电镜20年,共筑科技强国梦

光学显微镜基本知识

扫描电子显微镜的结构 - 探测器系统

光学显微镜分类

2012年度北京市电子显微学年会在京顺利召开

显微镜的基本原理

为什么显微镜成像是倒置的

为什么显微镜成像是倒置的

为什么显微镜成像是倒置的

显微镜光学构件及成像原理

光学显微镜分析


Copyright ©2007-2016 ANTPEDIA, All Rights Reserved
京ICP备07018254号
京公网安备1101085018
电信与信息服务业务经营许可证:京ICP证110310号