| 赛默飞XRF在工业硅及半导体框线工艺品控中的应用 |
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| 根据国标《GB/T14849.5》，波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF）可以用来检测工业硅里的12种杂质元素，包括 铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜； |
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| 采用简单的压片制样，5分钟可完成全部主量元素硅和12种杂质元素的分析，数据精度好，检测效率高。 |
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| 赛默飞的波长色散型X射线荧光光谱仪（WDXRF），样品测试数据不仅满足生产控制所需，而且数据稳定性极佳（标准偏差低于十万分之一），已在行业领先企业得到应用和认可。 |
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 | | | Thermo Scientific ARL PERFORM"X WDXRF光谱仪 | | | -宽动态范围（从亚 ppm 级到 100%） | | -严谨 精确 可靠 | | -集成的样品交换器 | | -方便的无损样品制备 | | |
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| 引线框架在生产环节，需要对电镀液的成分含量进行测定，在保证电镀质量达到工艺要求的同时，也可以合理使用电镀用的贵金属，控制生产成本。 |
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| 赛默飞世尔科技的高端ARL QUANT"X X射线荧光光谱仪，不仅在硬件配置上性能优异，而且对于“引线框架电镀液成分检测”的要求，开发了有针对性的解决方案，在引线框架行业的头部企业中得到了应用和认可。针对不同客户的电镀液配方，ARL QUANT"X X射线荧光光谱仪能够生成相应的分析检测方案。在空气分析环境中，它可以在短时间内（通常10-30秒）快速分析出电镀液中贵金属元素的含量，且检测结果准确稳定，可以克服镀缸中随时加入药剂引起的基体波动，满足半导体引线框架行业的高标准分析需求。 |
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 | | | Thermo Scientific ARL QUANT"X EDXRF 光谱仪 | | | -紧凑、占地面积小 | | -高性能、多元素检测 | | -快速精准的痕量分析 | | -可进行空气、真空和氦气中的样品分析 | | |
