 | | | 随着光学技术的飞速发展，光学薄膜在诸多领域的应用越来越广泛，其性能与设计、加工及分析测量技术密切相关。为了进一步推动光学薄膜技术的发展，提升行业水平，安捷伦科技联合分析测试百科网举办本次研讨会，邀请光学薄膜产业知名企业、科研院所专家进行分享，将围绕滤光片、极端尺寸样品、高品质光学薄膜的相关研究与测试进行深入探讨。 | | | | | | | 时间 | 报告题目 | 演讲嘉宾 | 单位名称 | | 光学薄膜设计、加工与分析测量 | | 14:00-14:10 | 致欢迎辞 | 宋建华
资深工程师 | 安捷伦科技（中国）有限公司 | | 14:10-14:50 | 吸收型滤光片的设计、加工及检测 | 宫向宇
运营经理，高级工程师 | 长春博信光电子有限公司 | | 14:50-15:20 | 从8英寸到2mm—极端尺寸样品的自动mapping与测试 | 蒋龙平
资深应用工程师 | 安捷伦科技（中国）有限公司 | | 15:20-16:00 | 磁控溅射研制高品质光学薄膜及相关测试手段简介 | 何文彦
副研究员、硕士生导师 | 中国科学院光电技术研究所 | | 16:00-16:10 | 问答互动 | 全体成员 | | | | | 注:最终议程以活动专题页面发布为准，敬请关注。 |  |  | | | | | | |
