CNS 12114-1987
金属镀层与金属氧化层用横截面显微镜式厚度测定法
Measurement of Metal and Oxide Coating Thickness by Microscopic Examination of A Cross Section
- 标准号
- CNS 12114-1987
- 发布
- 1987年
- 发布单位
- 台湾地方标准
- 当前最新
- CNS 12114-1987
- 适用范围
- 本标准适用于为一般金属层及氧化层上，以显微镜观测金属镀层及氧化膜层的截面而测定其厚度的方法。(以下简称显微镜式测定法)。
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