IEC 61745:1998
光学纤维几何参数测量装置校准端面影像分析程序

End-face image analysis procedure for the calibration of optical fibre geometry test sets

被代替

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标准号

IEC 61745:1998

发布

1998年

发布单位

国际电工委员会

替代标准

IEC 61745:2017

当前最新

IEC 61745:2017

 

 

被代替标准

IEC 86/125/FDIS:1998

适用范围

在研究和生产环境中，存在一系列用于表征光纤几何形状的测试方法。此外，每种测试方法可以确定完整的几何表征所需的许多参数中的一个或多个。本国际标准描述了执行端面图像分析（也称为近场或灰度分析）的测试装置的校准。然而，这些原理可以应用于不同类型的测试集。该标准仅涉及单模光纤测量的校准；然而，这种类型的测试装置也可用于测量多模光纤纤芯的几何参数，但与这些测量相关的不确定性的评估超出了本标准的范围。概述的程序由校准实验室和几何测试装置的制造商或用户执行，目的是校准几何测试装置和评估在校准测试装置上进行的测量的不确定性。本标准不包括光纤涂层或光缆测量测试装置的校准。该标准的目的是定义用于测量光纤玻璃几何形状的测试装置校准的标准程序。

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